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新一代無(wú)損檢測(cè)設(shè)備“超級(jí)針”X射線成像系統(tǒng)問(wèn)世
發(fā)布時(shí)間：2018-11-05瀏覽次數(shù)：1783返回列表
隨著芯片制造及封裝過(guò)程中越來(lái)越多地使用輕元素材料，對(duì)設(shè)備應(yīng)用場(chǎng)景要求加多樣化。高分辨率、高對(duì)比度、大檢測(cè)范圍的X射線檢測(cè)裝備已成為行業(yè)急需。
近日，電科38所發(fā)布研制的新一代無(wú)損檢測(cè)設(shè)備——“超級(jí)針”X射線成像系統(tǒng)，這是臺(tái)“超級(jí)針”X射線成像系統(tǒng)。該系統(tǒng)擁有“火眼金睛”般的缺陷檢測(cè)能力，成像分辨率小于1微米，相當(dāng)于發(fā)絲的1%，可應(yīng)用于集成電路、軍工航天、汽車(chē)電子、醫(yī)療診斷、文物保護(hù)等多個(gè)領(lǐng)域。
微焦點(diǎn)X射線成像系統(tǒng)是工業(yè)無(wú)損檢測(cè)的常規(guī)必備設(shè)備，廣泛應(yīng)用于集成電路、電子器件等各種器材的無(wú)損檢測(cè)。電科38所“超級(jí)針”X射線成像系統(tǒng)采用獨(dú)特的“超級(jí)針”X射線源zhuan利技術(shù)，可在圖像增強(qiáng)器上形成被掃描物體的透視圖像。該設(shè)備采用的“超級(jí)針”X射線源，因而以“超級(jí)針”冠名，具有成像清晰、性能穩(wěn)定、潔凈度高、超低輻射、低能成像等優(yōu)點(diǎn)，在硅、鋁、銅、陶瓷等輕元素材料的檢測(cè)方面明顯，已申請(qǐng)外發(fā)明zhuan利30余項(xiàng)。
