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發(fā)布緊急求購(gòu) |
價(jià)格:電議
所在地:廣東
型號(hào):CT-8685
更新時(shí)間:2024-01-10
瀏覽次數(shù):3118
公司地址:東莞塘廈鎮(zhèn)新村8號(hào)
余乾素(先生) 經(jīng)理
國(guó)儀儀器是集電子儀器銷售、測(cè)試方案提供、售前售后服務(wù)、儀器設(shè)備維修為一體的專業(yè)公司。 主要銷售的儀器有:線材測(cè)試機(jī)CT-350、CT-360、CT-8681、CT-8683、CT-8685、CT-8687、CT-8688、CT-8689、CT-8650E、CT-8600L、CT-3300A、CT-9980 示波器、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜儀、萬用表、信號(hào)發(fā)生器、電源、電子負(fù)載、頻率計(jì)、功率計(jì)、綜合測(cè)試儀、音頻分析儀、信號(hào)源等高頻儀器。 |
國(guó)儀電子儀器設(shè)備銷售 |
國(guó)儀電子儀器提供的二手儀器方案使購(gòu)買二手測(cè)試儀器就像購(gòu)買其它的新產(chǎn)品一樣,而價(jià)格卻要低得多,其報(bào)價(jià)一般只有新設(shè)備的20%到50%。作為嚴(yán)格的檢測(cè)流程的一部分,我們進(jìn)行物理檢查,完成任何必要的維修和安全升級(jí),把軟件升級(jí)到最新的兼容版本。二手設(shè)備也可以使用最新的兼容性能和功能。 |
國(guó)儀電子儀器設(shè)備回收 |
國(guó)儀儀器提供了測(cè)試測(cè)量行業(yè)內(nèi)最廣泛的折價(jià)升級(jí)/以閑置設(shè)備置換儀器等方案。 閑置資產(chǎn)不僅占用寶貴的空間,還會(huì)增加存貨跟蹤、維護(hù)、保險(xiǎn)和稅收等成本。與我司合作,處理資產(chǎn),輕松銷售閑置設(shè)備,并可得到一個(gè)好價(jià)錢。 |
國(guó)儀電子儀器設(shè)備租憑 |
某個(gè)產(chǎn)品需研發(fā),在短期間內(nèi),想租用儀器的客戶,找國(guó)儀儀器一定沒錯(cuò)。 |
CT-8685功能
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測(cè)試項(xiàng)目
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符號(hào)
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測(cè)試範(fàn)圍
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電阻
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R
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0.1Ω~10MΩ
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導(dǎo)通
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COND
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0.1Ω~50Ω
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絕緣
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IS
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1MΩ~1000MΩ
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高壓(漏電流)
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HIPOT
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0.1mA~5mA
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斷/短路
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O/S
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2kΩ~50kΩ
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單邊測(cè)試
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斷短路端點(diǎn)判斷
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CT-8685.規(guī)格
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進(jìn)階功能
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可程式連續(xù)測(cè)試
自動(dòng)學(xué)習(xí)自動(dòng)找點(diǎn) 自我診斷 自我校正歸零 |
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基本精準(zhǔn)度
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±5%
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測(cè)試掃描模式
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自動(dòng)/手動(dòng)可切換
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量測(cè)頻率與訊號(hào)/電壓
低電壓良測(cè)訊號(hào) 高壓(漏電流)測(cè)試 高壓(絕緣)測(cè)試 |
100~100kHz, 1Vac
5Vdc / 50mA max. ±5% 100~500Vac. ±5% (NA機(jī)種) 100~1000Vac ±5% (FA機(jī)種)
/ 0.01~60sec時(shí)間可設(shè)定
200~1000Vdc. ±5% (NA機(jī)種)
200~1500Vdc. ±5% (FA機(jī)種)
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量測(cè)接點(diǎn)
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128量測(cè)接點(diǎn)(可選購(gòu)256點(diǎn))
Hipot Calibration +/- Output Auto Pin Search Jack |
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面板按鍵
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Syskey / Fastkey / Editkey
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I/O介面
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RS-232 Port
Printer Port Remote Control Port |
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記憶體
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多可儲(chǔ)存56組設(shè)定
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電源輸入
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115/230Vac 60/50Hz ± 10% Switchable
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配件
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自動(dòng)找點(diǎn)探針
治具排線 使用手冊(cè) 電源線 Remote Control Cable (選購(gòu)) RS-232 Cable (選購(gòu)) |
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操作環(huán)境溫溼度
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15°C~35°C. RH≦75%
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尺寸(WxHxD)
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425 x 190 x 350mm
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重量
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14kgs
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線材規(guī)格要求
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1μF Max.
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訂購(gòu)代號(hào)
CT-8685NA CT-8685FA /C2 |
內(nèi)容
Cable Tester (AC500V/DC1000V) Cable Tester (AC1000V/DC1500V) 256測(cè)試點(diǎn) |