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價(jià)格：電議
所在地：全國
型號：
更新時(shí)間：2011-11-29
瀏覽次數(shù)：1974
公司地址：
(女士)
測定數(shù)據(jù)
黃銅中Cd41ppm?Pb495ppm 重復(fù)測定為例
照射徑Ø3mm?測定時(shí)間300秒
Cd濃度(ppm) Pb濃度(ppm)
1 37.3 509.2
2 41.2 488.4
3 40.2 492.9
4 46.8 486.5
5 43.3 482.6
平均值41.8 491.9
標(biāo)準(zhǔn)偏差 3.6 10.3
CV 8.5% 2.1%
無電解Ni鍍層(14.3μm)中 Pb700ppm 重復(fù)測定為例
照射徑Ø3mm?測定時(shí)間300秒
Pb濃度(ppm) 膜厚(μm)
1 735.7 13.7
2 708.8 14.4
3 750 13.5
4 707.8 13.9
5 693 13
平均值 719.1 13.7
標(biāo)準(zhǔn)偏差 23.2 0.5
CV 3.2% 3.7%
產(chǎn)品性能
XGT-1700WR系列
X線照射徑 Ø3mm標(biāo)準(zhǔn) Ø1.2mm或Ø100μm (可選)
一次X線濾膜
Ø3mm照射徑:4種自動(dòng)切換
Ø1.2mm照射徑:5元素同時(shí)分析用濾膜或無濾膜
Ø100μm照射徑:無濾膜
二次X線濾膜
用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標(biāo)準(zhǔn)裝備
(ON/OFF自動(dòng)切換)
X線檢測器
液體氮?dú)饫鋮s3L
高純度Si檢測器
樣品形狀
zui大460×360×149mm
免責(zé)聲明：以上所展示的[ XGT-1700WRX射線熒光光譜儀 『Horiba RoHS/ELV/WEEE分析儀』]信息由會員[]自行提供，內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會員負(fù)責(zé)。
