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FT-342 四探針方阻電阻率測試儀 導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料電阻率測試儀,雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,四探針方阻電阻率測試儀 |
2024-08-19 |
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方阻測試臺 方阻測試臺 無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報(bào)表; 方阻測試臺 |
2024-08-19 |
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FT-352 導(dǎo)體材料高溫電阻率測試儀 導(dǎo)體材料高溫電阻率測試儀廣泛用于:生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量FT-352導(dǎo)體材料高溫電阻率測試系統(tǒng); |
2024-08-19 |
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