EDX鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

準(zhǔn)確、可靠的XRF分析對各行各業(yè)生產(chǎn)工藝至關(guān)重要。無論是確保焊接合金符合質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)還是評估金飾價值，選擇合適的XRF分析儀將對您的生產(chǎn)工藝和盈利率產(chǎn)生深遠影響。下面，我們來介紹下選擇EDX鍍層測厚儀的幾大原因。

1、直觀的軟件

專門設(shè)計用于提高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和提升業(yè)務(wù)的設(shè)備應(yīng)具備操作簡單的特點。對任何人而言，深入探究復(fù)雜的用戶培訓(xùn)資源并不實用。采用擴展版平臺，旨在簡化日常分析流程，使受訓(xùn)較少的操作人員也能像專業(yè)技術(shù)人員那樣有所收獲。由于直觀操作和強大分析功能的結(jié)合有助于提高能力和生產(chǎn)率，用戶也同樣受益頗豐。

從材料分析到3D繪圖再到生成統(tǒng)計和報告，解決了新舊應(yīng)用測量方面的難題。

2、靈活

簡單、靈活意味著該儀器能夠在各種分析環(huán)境中工作，且用戶只需接受少量培訓(xùn)。其關(guān)鍵部分之一便是校準(zhǔn)設(shè)置。

已經(jīng)過優(yōu)化，能夠適應(yīng)成百上千種應(yīng)用，包括PCB表面處理、連接器鍍層處理、防腐處理、裝飾表面處理、耐磨處理、耐高溫處理等。

若無校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片，采用基本參數(shù)法也可獲得簡單、可靠的定量結(jié)果。這種方法可在數(shù)分鐘內(nèi)創(chuàng)建。

3、配置選項

能適應(yīng)各種形狀和尺寸的零件，小型零件和長而細的零件均適用。加深樣品艙還能對較高零件進行快速、無損的測量。

4、樣品臺配置

標(biāo)準(zhǔn)的基座配置是開槽樣品臺，可完成從小型零部件到大型扁平印刷電路板（即使其超出儀表本身寬度）等各種樣品的測量。加深樣品臺主要適用于較高樣品，而程控樣品臺則能自動完成測量。即使無人監(jiān)管操作，程控樣品臺仍能實現(xiàn)較高的樣品處理量。

各種選裝配置能確保用戶在達到目標(biāo)規(guī)格的同時能降低成本并減少耗時的過量鍍層和返工。所有操作人員往往擔(dān)憂該如何正確裝載并定位樣品。一旦將樣品妥善放置，本品在數(shù)秒內(nèi)便會顯示結(jié)果，而且操作人員可以自由繼續(xù)進行下一項任務(wù)。

選裝這些配置，配合根據(jù)可溯源標(biāo)準(zhǔn)優(yōu)化的校準(zhǔn)性能，您可完全信任該儀器生成的結(jié)果。

5、探測器的選擇

不過時的設(shè)備的重要性不言自明。擁有一臺不斷革新且適應(yīng)您的操作的設(shè)備將長期為您節(jié)省大量資源?？蛇x裝兩種探測器，一種是正比計數(shù)器，另一種是更的硅漂移探測器（SDD）。

正比計數(shù)器適合于準(zhǔn)確、可靠的分析單元素鍍層。而SDD則適合于多元素鍍層的分析或者靈活的應(yīng)對未來鍍層結(jié)構(gòu)的不斷改變，它能夠讓您的分析與時俱進。SDD噪音小，不僅能檢測薄的鍍層，而且能獲得峰形完整的譜圖。

6、可選語言

由于EDX鍍層測厚儀的相關(guān)軟件提供11種可選語言，因此，操作員無需精通英語。通常我們的客戶本身就是供應(yīng)鏈的組成部分，因此，我們的業(yè)務(wù)重點是如何確保我們的解決方案易于使用。