WDX波長色散光譜儀不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學元素，分析精度高,樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發(fā)待測物質中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分光系統(tǒng)，探測器系統(tǒng)，真空系統(tǒng)和氣流系統(tǒng)等部分組成。根據(jù)分析晶體的聚焦幾何條件不同,分為非聚焦反射平晶式,半聚焦反射彎晶式，全聚焦反射彎晶式，半聚焦透射彎晶式等。其原理是:試樣受X射線照射后，元素的原子內殼層電子被激發(fā)，并產(chǎn)生殼層電子躍遷而發(fā)射出該元素的特征X射線，通過探測器測量元素特征X射線的波長（能量）的強度與濃度的比例關系，便可進行定量分析。今天，我們主要介紹WDX波長色散光譜儀樣品濃度測定。

    剛制定好的標準曲線接著進行樣品濃度測定時：

    1、只需在concentration mode對話框按analyse sample鍵，進入樣品測定窗口。

    2 、按設定的樣品順序放入各樣品管，每次按提示進行操作。

    3、屏幕上出現(xiàn)結果窗口，結果數(shù)據(jù)將依次顯示在樣品表中的相應位置。

    （1）利用原有的標準曲線接著進行樣品濃度測定時

    （2）調出所測定樣品的濃度方法文件，先調出refs頁，將原設edit mode選項取消，改設左上角的using exiting calibration。重新將方法存盤，則今后再調用時即不需再作修改。

    （3）在sample頁中按要求重設各種樣品名稱機樣品信息。

    （4）按工具條中setup鍵，將主機設到該方法所設定的條件。

    （5）將參比溶液放入比色室，按autozero鍵做背景校零。

    （6）按start鍵，按設定的樣品順序放入各樣品管，每次按提示進行操作。

    （7）屏幕上出現(xiàn)結果窗口，結果數(shù)據(jù)將依次顯示在樣品表中相應位置。