成分分析分類

按照對(duì)象和要求：微量樣品分析和痕量成分分析 。

按照分析的目的：體相元素成分分析、表面成分分析和微區(qū)成分分析。

體相元素成分分析

1.天瑞儀器原子吸收光譜儀（AAS）

原理：原子吸收光譜分析的波長(zhǎng)區(qū)域在近紫外區(qū)。其分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，而求得樣品中待測(cè)元素的含量。

適合分析材料：金屬材料，非金屬材料等

應(yīng)用域：化、冶金、食品、環(huán)境等多種域

2.天瑞儀器電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀（ICP-AES /ICP-OES）

原理：利用等離子體激發(fā)光源（ICP）使試樣蒸發(fā)汽化，離解或分解為原子狀態(tài)，原子可步電離成離子狀態(tài)，原子及離子在光源中激發(fā)發(fā)光。利用分光系統(tǒng)將光源發(fā)射的光分解為按波長(zhǎng)排列的光譜，之后利用光電器件檢測(cè)光譜，根據(jù)測(cè)定得到的光譜波長(zhǎng)對(duì)試樣行定性分析，按發(fā)射光強(qiáng)度行定量分析。

適合分析材料：純有色金屬及其合金；金屬材料、電源材料、貴金屬，電子、通訊材料及其包裝材料；療器械及其包裝材料

應(yīng)用域： 冶金、地礦、建材、機(jī)械、化、農(nóng)業(yè)、環(huán)保、食品和藥等多種域

3.天瑞儀器電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）

原理：測(cè)定時(shí)樣品由載氣（氬氣）引入霧化系統(tǒng)行霧化后，以氣溶膠形式入等離子體中心區(qū)，在溫和惰性氣氛中被去溶劑化、汽化解離和電離，轉(zhuǎn)化成帶正電荷的正離子，經(jīng)離子采集系統(tǒng)入質(zhì)譜儀，質(zhì)譜儀根據(jù)質(zhì)荷比行分離，根據(jù)元素質(zhì)譜峰強(qiáng)度測(cè)定樣品中相應(yīng)元素的含量。

適合分析材料：金屬，非金屬等材料

應(yīng)用域：環(huán)境、半導(dǎo)體、學(xué)、生物、冶金、石油、核材料等域

4.天瑞儀器X射線熒光光譜儀（XRF）

分為波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)和能譜色散型X-射線熒光光譜儀(ED-XRF)。

原理：用X射線照射試樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長(zhǎng)（或能量）分開，分別測(cè)量不同波長(zhǎng)（或能量）的X射線強(qiáng)度，以行定性和定量分析。

適合分析材料：鋁合金、不銹鋼、鉻鉬合金、金屬管道和法蘭材料，黃銅、青銅以及其他銅合金，金屬焊料、鈦合金、具鋼、鎳基或鈷基等“超合金”行材料牌號(hào)匹配和元素定量分析。

應(yīng)用域：地質(zhì)、環(huán)境、石化、金屬、礦物、水泥、玻璃等眾多業(yè)及科研域

5. X射線衍射儀（XRD）

原理：利用晶體形成的X射線衍射，對(duì)物質(zhì)行內(nèi)原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有定波長(zhǎng)的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí)，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng)，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。

適合分析材料：無(wú)機(jī)材料、有機(jī)材料、鋼鐵冶金、納米材料

應(yīng)用域：冶金、石油、化、科研、航空航天、教學(xué)、材料生產(chǎn)等域

6.天瑞儀器分光光度計(jì)

原理：分光光度計(jì)采用個(gè)可以產(chǎn)生多個(gè)波長(zhǎng)的光源，通過系列分光裝置，從而產(chǎn)生特定波長(zhǎng)的光源，光線透過測(cè)試的樣品后，分光線被吸收，計(jì)算樣品的吸光值，從而轉(zhuǎn)化成樣品的濃度，吸光值與樣品的濃度成正比。

適合分析材料：金屬，非金屬等

應(yīng)用域：業(yè)、農(nóng)業(yè)、生化、地質(zhì)、冶金、食品、環(huán)保等各個(gè)域

二 表面成分分析和微區(qū)成分分析

1.電子探針譜儀

分為能譜儀和波譜儀

原理：利用聚焦電子束（電子探測(cè)針）照射試樣表面待測(cè)的微小區(qū)域，從而激發(fā)試樣中元素產(chǎn)生不同波長(zhǎng)（或能量）的特征X射線。用X射線譜儀探測(cè)這些X射線，得到X射線譜。根據(jù)特征X射線的波長(zhǎng)（或能量）行元素定性分析；根據(jù)特征X射線的強(qiáng)度行元素的定量分析。

適合分析材料:金屬及合金，分子材料、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無(wú)機(jī)或有機(jī)固體材料分析

應(yīng)用域：地質(zhì)，冶金，石油，化，礦產(chǎn)，農(nóng)業(yè)等域

2.天瑞儀器X射線熒光光譜儀（XRF）

參見體相成分分析X射線熒光光譜儀（XRF）

3.俄歇電子能譜儀（AES）

原理：具有定能量的電子束(或X射線)激發(fā)樣品俄歇效應(yīng)，通過檢測(cè)俄歇電子的能量和強(qiáng)度，從而獲得有關(guān)材料表面化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)的信息的方法。

適合分析材料:金屬、分子等材料，薄膜，涂層等

應(yīng)用域：半導(dǎo)體術(shù)、冶金、催化、礦物加和晶體生長(zhǎng)等。

4.X射線光電子能譜（XPS）

原理：激發(fā)源為X射線，用X射線作用于樣品表面，產(chǎn)生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜研究樣品表面組成和結(jié)構(gòu)。

適合分析材料:金屬、分子等材料，薄膜，涂層等

應(yīng)用域：半導(dǎo)體術(shù)、冶金、催化、礦物加和晶體生長(zhǎng)等

5.離子散射光譜儀(ISS)

原理：根據(jù)彈性散射理論，由于散射離子的能量分布和角分布與表面原子的原子量有確定的關(guān)系，通過對(duì)散射離子行分析就可以得到表面單層元素組份及表面結(jié)構(gòu)分析。

適合分析材料:合金，分子材料等

應(yīng)用域：物理，化學(xué)，微電子，生物，制藥，空間分析等業(yè)和研究方面。

6.二次離子質(zhì)譜儀(SIMS)

原理：通過發(fā)射熱電子電離氬氣或氧氣等離子體轟擊樣品的表面，探測(cè)樣品表面溢出的荷電離子或離子團(tuán)來(lái)表征樣品成分?？梢詫?duì)同位素分布行成像，表征樣品成分；探測(cè)樣品成分的縱向分布

適合分析材料:金屬，半導(dǎo)體陶瓷，有機(jī)物

應(yīng)用域：物理，化學(xué)，微電子，生物，制藥，空間分析等業(yè)和研究方面。

7.天瑞儀器紅外吸收光譜儀（IR）

原理：用不同氣體對(duì)不同波長(zhǎng)的紅外線具有選擇性吸收的特性。具有不對(duì)稱結(jié)構(gòu)的雙原子或多原子氣體分子，在某些波長(zhǎng)范圍內(nèi)（1~25um）吸收紅外線，具有各自的特征吸收波長(zhǎng)。

適合分析材料:無(wú)機(jī)、有機(jī)、分子化合物

應(yīng)用域：化，物理、天文、氣象、遙感、生物、學(xué)等域

8.拉曼散射光譜儀(RAMAN)

原理：當(dāng)光打到樣品上時(shí)候，樣品分子會(huì)使入射光發(fā)生散射。大分散射的光頻率沒變，我們這種散射稱為瑞利散射，分散射光的頻率變了，稱為拉曼散射。散射光與入射光之間的頻率差稱為拉曼位移。拉曼光譜儀主要就是通過拉曼位移來(lái)確定物質(zhì)的分子結(jié)構(gòu)。

適合分析材料:固體、液體、氣體、有機(jī)物、分子等

應(yīng)用域：石油、食品、農(nóng)牧、刑偵及珠寶行業(yè)、環(huán)境、鑒定、地質(zhì)域、化學(xué)、分子、制藥及學(xué)等相關(guān)域

三 其它

1．天瑞儀器火花直讀光譜儀

原理：火花直讀光譜儀用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑臏厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長(zhǎng)，用光柵分光后，成為按波長(zhǎng)排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號(hào)變成電信號(hào)，經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分并行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，并打印出各元素的百分含量。

適合分析材料：黑色金屬，有色金屬

應(yīng)用域：冶金、機(jī)械及其他業(yè)門

2．天瑞儀器紅外碳硫分析儀

原理：將試樣在溫爐中通氧燃燒，生成并逸出CO2和SO2氣體，用此法實(shí)現(xiàn)碳硫元素與金屬元素及其化合物的分離，然后測(cè)定CO2和SO2的含量，再換算出試樣中的碳硫含量。

適合分析材料：黑色金屬、有色屬、稀土金屬無(wú)機(jī)物、礦石、陶瓷等物質(zhì)

應(yīng)用域：冶金、機(jī)械、商檢、科研、化等行業(yè)中

特點(diǎn)：準(zhǔn)確、快速、靈敏度的特點(diǎn)，低碳硫含量均使用

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