高級(jí)版會(huì)員 第8年
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公司名稱：江蘇天瑞儀器股份有限公司
主營(yíng)業(yè)務(wù)：RoHS環(huán)保測(cè)試儀、RoHS2.0檢測(cè)儀、鄰苯測(cè)試儀、XRF、鹵素儀、重金屬測(cè)試儀、XRF、金屬鍍層測(cè)厚儀、金鎳厚測(cè)試儀、金屬元素分析...
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影響光譜分辨率的三大點(diǎn)
發(fā)布時(shí)間：2017-10-25瀏覽次數(shù)：1087返回列表
影響光譜分辨率的情況有哪些？般有三種情況，比如入射狹縫、衍射光柵、探測(cè)器等，天瑞儀器為大家 簡(jiǎn)單介紹：
1、入射狹縫
入射狹縫直接影響光纖光譜儀的分辨率和光通量。光纖光譜儀的檢測(cè)器終檢測(cè)到的是狹縫投射到檢測(cè)器上的像，因此狹縫的大小直接影響到光纖光譜儀的分辨率，狹縫越小，分辨率越，狹縫越大，分辨率越低；另外狹縫是光入光纖光譜儀的門戶，其大小也直接影響到光纖光譜儀的光通量。狹縫越大，光通量越大，狹縫越小，光通量越小。
2、衍射光柵
衍射光柵將從狹縫入射的光在空間上行色散，使其光強(qiáng)度成為波長(zhǎng)的函數(shù)。它是光纖光譜儀行分光檢測(cè)的基礎(chǔ)，是光纖光譜儀的核心分。對(duì)于個(gè)給定的光學(xué)平臺(tái)和陣列式檢測(cè)器，我們可以通過選擇不同的衍射光柵來對(duì)光纖光譜儀的光譜覆蓋范圍，光譜分辨率和雜散光水平行額外的控制。
3、天瑞EDX1800B探測(cè)器
探測(cè)器是光纖光譜儀的核心分，直接決定了光纖光譜儀的光譜覆蓋范圍、靈敏度、分辨率及信噪比等標(biāo)。般來說，探測(cè)器的材料決定了其光譜覆蓋范圍，硅基檢測(cè)器其波長(zhǎng)覆蓋范圍般為190-1100nm，而InGaAs和PbS檢測(cè)器覆蓋900-2900nm的波長(zhǎng)范圍。而探測(cè)器的作原理、制方法及摻雜材料決定了其靈敏度、覆蓋范圍和信噪比等標(biāo)。
