、光譜干擾

    光譜干擾又可以劃分為譜線重疊、分子吸收、光散射等幾大分。待測元素的共振線與干擾物質譜線分離不，這類干擾主要來自光源和原子化裝置，主要有以下幾種：

 1.在分析線附近有單色器不能分離的待測元素的鄰近線

    可以通過調小狹縫的方法來抑制這種干擾。

 2.空心陰燈內有單色器不能分離的干擾元素的輻射

    換用純度較的單元素燈減小干擾。

 3.燈的輻射中有連續(xù)背景輻射。

    用較小通帶或更換燈

    試樣在轉移、蒸發(fā)過程中物理因素變化引起的干擾效應，主要影響試樣噴入火焰的速度、霧化效率、霧滴大小等。

    可通過控制試液與標準溶液的組成盡量致的方法來抑制。

   待測元素與其它組分之間的化學作用所引起的干擾效應,主要影響到待測元素的原子化效率，是主要干擾源。

 （1）待測元素與其共存物質作用生成難揮發(fā)的化合物，致使參與吸收的基態(tài)原子減少。

 例：a、鈷、硅、硼、鈦、鈹在火焰中易生成難熔化合物

     b、硫酸鹽、硅酸鹽與鋁生成難揮發(fā)物。

 （2）待測離子發(fā)生電離反應，生成離子，不產(chǎn)生吸收，總吸收強度減弱，電離電位≤6eV的元素易發(fā)生電離，火焰溫度越，干擾越嚴重，（如堿及堿土元素）。

  主要的方法有：使用溫火焰、加入適量的釋放劑或保護劑。

1）利用溫火焰。溫火焰的溫度較，所以會對樣品產(chǎn)生蒸發(fā)、熔融等現(xiàn)象的發(fā)生。在低溫火焰試驗中遇到的問題在溫火焰的試驗中不用擔心發(fā)生。例如：在研究對溫火焰中磷酸根的干擾就不需要加鈣來行。

2）加入釋放劑。在溫火焰中對元素的干擾產(chǎn)生化合物時，再加入種元素，使它與干擾的元素行反應終形成抗元素，形成的抗元素大多都揮發(fā)性很強，通過化學反應釋放出所需要的元素，所以開始加的那種物質就被稱為釋放劑。其中常見的釋放劑是氯化鍶和氯化鑭。

3）加入保護劑。在元素與元素之間加入種試劑，使它不受干擾，這種試劑被稱為保護劑。保護劑的機理：

a.可以阻礙干擾素與被檢測的元素間行化學發(fā)應，形成難揮發(fā)的產(chǎn)物。

b.阻礙干擾素與被檢測的元素之間產(chǎn)生難會發(fā)的產(chǎn)物。

4）加入緩沖劑。在被檢測的元素以及標準元素中都加入定量的干擾元素，來減少干擾元素的變化，來實現(xiàn)減少干擾素的變化，提它的穩(wěn)定性，減少干擾后的變化，減輕對實驗測試的影響，這樣的試劑被稱為緩沖劑，用它還降低些元素的變化。

（1）釋放劑—與干擾元素生成更穩(wěn)定化合物使待測元素釋放出來。

     例：鍶和鑭可有效消除磷酸根對鈣的干擾。

（2）保護劑—與待測元素形成穩(wěn)定的絡合物，防止干擾物質與其作用。

     例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根與鈣作用。

（3）飽和劑—加入足夠的干擾元素，使干擾趨于穩(wěn)定。

     例：用N2O—C2H2火焰測鈦時，在試樣和標準溶液中加入300mgL-1以上的鋁鹽，使鋁對鈦的干擾趨于穩(wěn)定。

（4）電離緩沖劑—加入大量易電離的種緩沖劑以抑制待測元素的電離。

     例：加入足量的銫鹽，抑制K、Na的電離。

   背景干擾主要是原子化過程中所產(chǎn)生的光譜干擾，主要有分子吸收干擾和散射干擾，干擾嚴重時，不能行測定。

    分子吸收：原子化過程中，存在或生成的分子對特征輻射產(chǎn)生的吸收。分子光譜是帶狀光譜，勢在定波長范圍內產(chǎn)生干擾。

    光散射：原子化過程中，存在或生成的微粒使光產(chǎn)生的散射現(xiàn)象。

    產(chǎn)生正偏差，石墨爐原子化法比火焰法產(chǎn)生的干擾嚴重

(1) 氘燈連續(xù)光譜背景校正

旋轉斬光器交替使氘燈提供的連續(xù)光譜和空心陰燈提供的共振線通過火焰；

連續(xù)光譜通過時：測定的為背景吸收(此時的共振線吸收相對于總吸收可忽略)；

共振線通過時，測定總吸收；

差值為有效吸收；

（2）塞曼(Zeeman)效應背景校正法

Zeeman效應：在磁場作用下簡并的譜線發(fā)生裂分的現(xiàn)象；

校正原理：原子化器加磁場后，隨旋轉偏振器的轉動，當平行磁場的偏振光通過火焰時，產(chǎn)生總吸收；當垂直磁場的偏振光通過火焰時，只產(chǎn)生背景吸收；

方式：光源調制法和共振線調制法（應用較多），后者又分為恒定磁場調制方式和可變磁場調制方式。

優(yōu)點：校正能力強（可校正背景A 1.2～2.0）；

可校正波長范圍寬：190～ 900nm 。