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使用X射線熒光光譜法元素分析儀時(shí)須注意這三個(gè)方面
發(fā)布時(shí)間:2018-06-28瀏覽次數(shù):3533返回列表
江蘇天瑞儀器股份有限公司致力于X射線熒光光譜法元素分析儀的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售。X射線熒光光譜法元素分析儀樣品處理簡單,并且可以快速獲得檢測(cè)結(jié)果。是種用于金屬件材料可靠性鑒別(PMI)以確認(rèn)所用金屬或合號(hào)是否正確無誤的簡便的儀器。使用X射線熒光光譜法元素分析儀時(shí)須注意這三個(gè)方面:
、材料成分
分析儀能夠定量分析元素周期表上從鎂到重元素等超過90%的元素,覆蓋了常用商品合金所含有的大多數(shù)元素。分析儀能夠?qū)︿X合金、不銹鋼、鉻鉬合金、金屬管道和法蘭材料,黃銅、青銅以及其他銅合金,金屬焊料、鈦合金、具鋼、鎳基或鈷基等“超合金”行材料牌號(hào)匹配和元素定量分析。
分析儀無法直接測(cè)量比鎂輕的元素。其中包括諸如鋰、鈹和碳等元素。這些元素與很多應(yīng)用有關(guān),比如:
某些航天用鋰合金中的鋰
某些銅合金中的鈹
許多低合金鋼中的碳
但許多此類合金的牌號(hào)仍然可以根據(jù)其他合金元素的組分行鑒別。如果需要定量分析這些輕元素,那就需要使用其他分析方法了。
二、試樣條件
分析儀的作原理可以概述如下:
(1) 發(fā)射X射線,激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光;
(2) 探測(cè)器接收X射線熒光;
(3) 利用復(fù)雜的運(yùn)算對(duì)數(shù)據(jù)行處理;
(4) 牌號(hào)識(shí)別。對(duì)于諸如鋁制類的輕合金,分析儀只能對(duì)試樣表面深度幾百微米行測(cè)量。對(duì)于鑄鐵或銅等主要金屬,分析儀對(duì)試樣的測(cè)量深度小于百微米。而對(duì)于金或鉛等致密材料,其僅能測(cè)量表面的數(shù)十微米。這就意味著材料表面準(zhǔn)確體現(xiàn)總體成分這點(diǎn)非常關(guān)鍵。諸如油漆、密封材料和鍍層以及表面污染等可能會(huì)對(duì)分析成大影響。與此類似,噴砂或拋丸、研磨、甚至粉塵的殘留物均可能影響材料可靠性鑒別。因此在使用分析儀行檢測(cè)之前務(wù)對(duì)試樣行清潔。
分析儀采用低率X射線管。由于發(fā)射和接收的X射線率較低,將分析儀貼近試樣就非常重要。理想情況下,試樣應(yīng)當(dāng)與儀器窗口面直接接觸。如果試樣具有復(fù)雜的幾何形狀那么就會(huì)存在很大難度,但分析儀的狹窄輪廓外形能夠讓儀器充分貼近諸如以90度角的卷邊焊縫材料。
三、試樣表面溫度
分析儀的X射線物理特性基本上不會(huì)受試樣溫度變化的影響。此外,分析儀性能可靠,不會(huì)受到環(huán)境條件變化的影響。該儀器在-10°C和50°C(14–122°F)2之間的作溫度范圍使用時(shí)不會(huì)發(fā)生溫度漂移或性能降低。分析儀可測(cè)量溫度可達(dá)100°C (212°F)的試樣。于上述溫度時(shí),儀器檢測(cè)窗上的聚丙烯薄膜可能會(huì)受到損壞。