天瑞儀器鍍層測(cè)厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測(cè)量，般常采用無損檢測(cè)方法。但是，由于測(cè)量對(duì)象、測(cè)量方法、測(cè)量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引了諸多測(cè)量誤差，為確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠，有要對(duì)其行不確定度分析。
、誤差分析
1、測(cè)量對(duì)象引入的誤差
測(cè)量對(duì)象引入的測(cè)量誤差主要包括以下幾方面：
（1）覆蓋層厚度的影響
（2）基體金屬磁性的影響
（3）基體金屬厚度的影響
（4）材料的邊緣效應(yīng)的影響
（5）基體金屬機(jī)械加方向的影響
（6）基體金屬剩磁的影響
（7）基體金屬曲率的影響
（8）基體金屬表面粗糙度的影響
對(duì)上述因素產(chǎn)生的測(cè)量誤差分析如下：
（1）對(duì)于較薄的覆蓋層，由于受儀器本身測(cè)量度和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難準(zhǔn)確測(cè)量覆蓋層厚度，尤其是當(dāng)覆蓋層厚度小于5μm的情況；對(duì)于較厚的覆蓋層，其測(cè)量結(jié)果相對(duì)誤差近似為常數(shù)，誤差隨覆蓋層厚度增加而增大。
（2）不同鐵磁性材料或同鐵磁性材料采用不同的熱處理方式和冷加藝后，其磁特性均有較大差異，而材料的磁特性差異會(huì)直接影響對(duì)磁鐵或檢測(cè)線圈的磁作用，為減小或消除磁特性差異產(chǎn)生的影響，應(yīng)采用磁特性與試樣基體相同或相近的金屬材料做為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。
（3）由于磁場(chǎng)在鐵磁性基體材料中的分布狀態(tài)在定范圍內(nèi)與基體厚度密切相關(guān)，當(dāng)基體厚度達(dá)到某臨界厚度時(shí)，這種影響才能減小或忽略。若試樣基體厚度小于臨界厚度時(shí)，應(yīng)通過化學(xué)方法除去試樣的局覆蓋層，利用試樣基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。
（4）儀器對(duì)試樣表面的不連續(xù)敏感，太靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處測(cè)量時(shí)，磁場(chǎng)將會(huì)發(fā)生變化，測(cè)量結(jié)果將不可靠。因此，不要在靠近不連續(xù)的位如邊緣、孔洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處行測(cè)量。
（5）金屬機(jī)械加方向?qū)Σ牧系拇盘匦詴?huì)產(chǎn)生較大影響，當(dāng)使用雙式測(cè)頭或被磨損而不平整的單式測(cè)頭測(cè)量時(shí)，測(cè)量結(jié)果會(huì)受到磁性基體金屬機(jī)械加（如軋制）方向的影響。因此，在試樣上測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭的方向與在校準(zhǔn)時(shí)該測(cè)頭所取方向致。
（6）金屬材料由于磨削等加方式可能帶來剩磁，影響儀器測(cè)量，試樣測(cè)量前應(yīng)行消磁處理，并在互為180°的兩個(gè)方向上行測(cè)量。
（7）基體金屬曲率的變化將影響測(cè)量結(jié)果，曲率半徑越小，對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響越大。當(dāng)測(cè)量曲率較小的試樣時(shí)，應(yīng)通過化學(xué)方法除去試樣的局覆蓋層，利用試樣的無膜分作為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。
（8）基體金屬表面粗糙度將影響測(cè)量結(jié)果，粗糙度程度增加，對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響增大。應(yīng)對(duì)試樣基體多個(gè)位置行零點(diǎn)校正，并在試樣不同位置上行多次測(cè)量，測(cè)量次數(shù)至少應(yīng)增加到5次或以上，以減小影響。
2、測(cè)量方法引入的誤差
測(cè)量方法引入的測(cè)量誤差主要包括以下幾方面：
（1）料表面附著外來物質(zhì)
（2）測(cè)頭取向
對(duì)上述因素產(chǎn)生的測(cè)量誤差分析如下：
（1）儀器測(cè)頭須與試樣表面緊密接觸，當(dāng)試樣表面存在外來物質(zhì)，如灰塵、油脂和腐蝕產(chǎn)物等，將影響測(cè)量結(jié)果，應(yīng)盡量去除，保持試樣表面清潔。同時(shí)，在測(cè)量時(shí)，還應(yīng)避開難以除去的缺陷。
（2）考慮到地重力場(chǎng)的影響，磁吸力原理的測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果會(huì)受磁體取向的影響，當(dāng)在水平或倒置位置上采用磁吸力原理的測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)，若測(cè)量裝置沒有在重心處得到支撐，應(yīng)分別在水平或倒置位置上對(duì)儀器校準(zhǔn)。
（3）測(cè)量環(huán)境引入的誤差
測(cè)量環(huán)境引入的測(cè)量誤差主要包括以下幾方面：
（1）圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)
（2）環(huán)境溫度
（3）環(huán)境濕度
上述因素我們可以采取措施盡量避免，比如：盡可能避免在強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下測(cè)量；在常溫常濕環(huán)境下即可滿足測(cè)量條件，因此這些誤差忽略不計(jì)，不予分析。
（4）儀器設(shè)備儀器設(shè)備引入的誤差
儀器設(shè)備引入的測(cè)量誤差主要包括以下幾方面：
（1）器測(cè)量示值誤差
（2）儀器測(cè)量zui小分辨率
（3）儀器使用的校準(zhǔn)片