老化就是通過讓半導體進行超負荷工作而使缺陷在短時間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。在半導體業(yè)界，器件的老化問題一直存在各種爭論。半導體隨時可能因為各種原因而出現(xiàn)故障，如果不經(jīng)過老化，很多半導體成品由于器件和制造工藝復雜性等原因在使用中會產(chǎn)生很多問題。在開始使用后的幾小時到幾天之內(nèi)出現(xiàn)的缺陷稱為早期故障，老化之后的器件基本上要求100%通過這段時間。準確確定老化時間的方法是參照以前收集到的老化故障及故障分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

本系統(tǒng)基于應急燈產(chǎn)品的自動化煲機測試，和測試數(shù)據(jù)可保存追溯，以提高產(chǎn)品的質(zhì)量.
煲機位置有地址碼，被測產(chǎn)品可與之對應。
檢測產(chǎn)品工作狀態(tài)：沖電狀態(tài)、放電狀態(tài)、指示燈狀態(tài)等

控制產(chǎn)品電源的ON/OFF

每工位需有信號指示狀態(tài)，測量工位狀態(tài)和被測產(chǎn)品的狀態(tài)。
系統(tǒng)軟件可編輯煲機參數(shù)并分類保存。
每個工位可單獨控制煲機流程。
記錄煲機結果。
電池電壓檢測。