瑞典Xcounter雙能光子計(jì)數(shù)探測(cè)器瑞典Xcounter雙能光子計(jì)數(shù)探測(cè)器
FLITEX
瑞典Xcounter雙能光子計(jì)數(shù)探測(cè)器
XC-FLITE X1、X2、X3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、自掃描、雙能采集、光
子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器,用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng),基于強(qiáng)大的
CdTe-CMOS傳感器平臺(tái)研發(fā)而成,XC-FLITE X系列適用于潛在寬
泛的能量范圍。
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像,也可以采用時(shí)間延遲總和
(TDS)模式,掃描速度zui高90mm/s。
引進(jìn)反符合技術(shù)的雙能采集功能,是XC-FLITE X系列產(chǎn)品的
之處,在雙能采集過(guò)程中,通過(guò)兩個(gè)的閾值將探測(cè)到的光子
能量加以比較,并分別讀出,雙能設(shè)置可用作材料分析,這為新
的醫(yī)學(xué)和工業(yè)X射線成像技術(shù)開(kāi)啟了大門(mén)。反符合技術(shù)的運(yùn)用,確
保將每一個(gè)光子信號(hào)分布在適當(dāng)?shù)南袼攸c(diǎn)上,從而獲得更高的能
量分辨率。
集成
XC-FLITE X系列,通過(guò)GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計(jì)算機(jī)
上,自帶靈活的軟件開(kāi)發(fā)包,可控制所有XC-FLITE X的功能;可
用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺(tái)。
小范圍輻照
小動(dòng)物成像
實(shí)驗(yàn)室樣品和標(biāo)本成像
工業(yè)檢測(cè)(NDT)
特點(diǎn)&
三種尺寸可選
CdTe-CMOS傳感器,高品質(zhì)成像
自掃描設(shè)計(jì),透明可見(jiàn)
雙能采集,具有材料區(qū)分能力
反符合技術(shù),的能量分辨率
可基于幀率成像,也可以選擇時(shí)間
掃描速度zui高90mm/s
兼容Windows操作系統(tǒng),從XP到
配有功能強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件
應(yīng)用
延遲總和(TDS)模式
Windows8
雙能光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
系列
XC-FLITE X系列的產(chǎn)品內(nèi)部具有一個(gè)精心設(shè)計(jì)的掃描驅(qū)動(dòng)元件,
可自動(dòng)控制,整個(gè)掃描過(guò)程是完全透明可見(jiàn)
物理參數(shù)
尺寸 (L×W×H):XC-FLITE X1:32.9×22.0×5.5cm
XC-FLITE X2:54.2×40.2×8.7cm
XC-FLITE X3:63.0×57.1×8.5cm
成像面積:X1:15cm×15cm
X2:30cm×30cm
X3:45cm×45cm
溫度控制:Internal Peltier溫度控制
環(huán)境溫度:+10 - +40℃
儲(chǔ)藏溫度:-10-+60℃ @ 10% - 95% 濕度
射線窗:碳纖維, 厚500 微米
射線屏蔽:根據(jù)應(yīng)用
傳感器
傳感器數(shù)量:X1:1 X2:2 X3:3
傳感器類(lèi)型:雙能光子計(jì)數(shù) CdTe-CMOS
傳感器厚度:0.75mm-2.0mm CdTe
有效面積:X1:154.7×12.8mm(1536×128像素)
X2:309.4×12.8mm(3072×128像素)
X3:464.1×12.8mm(4608×128像素)
像素:
像素填充率:
性能
zui大掃描速度:X1:90 mm/s X2 & X3:255 mm/s
幀率:zui高1000 fps (也可選擇時(shí)間延遲總和模式)
動(dòng)態(tài)范圍:12 bits
像素合并:1×1,2×2, 4×4
曝光時(shí)間:100us-5s
DQE(0): 85%@RQA5 spectra
MTF:>80% @ 2lp/mm,>45% @ 5lp/mm
管KV范圍:15-250kVp
內(nèi)部測(cè)試模式:偽隨機(jī)調(diào)試模式
外部觸發(fā)輸出:3.3V TTL
輸入5V
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