簡介：美國AEP Technology公司主要從事半導(dǎo)體檢測設(shè)備, MEMS檢測設(shè)備, 光學(xué)檢測設(shè)備的生產(chǎn)制造，是表面測量解決方案行業(yè)的供應(yīng)者,專門致力于材料表面形貌測量與檢測。公司始終致力于微觀表面“三維”檢測技術(shù)和設(shè)備的研發(fā)及推廣，歷經(jīng)近十年努力，已為30多個提供NanoMap系列三維表面形貌測量系統(tǒng)。NanoMap-LS三維表

      億誠恒達科技有限公司，是一家專門代理經(jīng)銷進口科學(xué)儀器、測試測量設(shè)備的高科技企業(yè)，所經(jīng)營的產(chǎn)品涵蓋材料科學(xué)、化學(xué)分析、綠色能源、半導(dǎo)體及微電子科學(xué)等領(lǐng)域。公司本著“誠信、務(wù)實、品質(zhì)、服務(wù)”的經(jīng)營理念，已經(jīng)為國內(nèi)許多用戶提供了先進的儀器設(shè)備，專業(yè)的技術(shù)咨詢和完善的售后服務(wù)。

公司主要代理產(chǎn)品有：

公司主營：氣體純化器，儲氫材料PCT測試儀，電化學(xué)工作站，恒電位儀，多通道電化學(xué)工作站，旋轉(zhuǎn)圓盤環(huán)盤電極RDE，石英晶體微天平QCM，掃描探針顯微鏡，原子力顯微鏡AFM，CMP化學(xué)機械拋光設(shè)備，摩擦磨損試驗機，三維形貌儀，輪廓儀，臺階儀，疲勞試驗機，材料試驗機，扭轉(zhuǎn)彎曲試驗機，扭矩測試儀等。

北京億誠恒達科技有限公司，位于北京海淀中關(guān)村核心區(qū)域，是一家專門代理經(jīng)銷進口科學(xué)儀器、測試測量設(shè)備的高科技企業(yè)，所經(jīng)營的產(chǎn)品涵蓋材料科學(xué)、化學(xué)分析、綠色能源、半導(dǎo)體及微電子科學(xué)等領(lǐng)域。公司本著“誠信、務(wù)實、品質(zhì)、服務(wù)”的經(jīng)營理念，竭誠為國內(nèi)廣大用戶提供先進的儀器設(shè)備，專業(yè)的技術(shù)咨詢和完善的售后服務(wù)。

公司擁有國際貿(mào)易和商務(wù)物流管理的專業(yè)人才，可提供代理進出口、代辦免稅手續(xù)、代辦報關(guān)、運輸、保險、商檢等服務(wù)。也可提供國際貿(mào)易等方面商務(wù)咨詢服務(wù)。

北京億誠恒達科技有限公司愿與客戶攜手，共創(chuàng)美好未來！

材料試驗機，疲勞試驗機，沖擊試驗機，電化學(xué)工作站，恒電位/恒電流儀，石英晶體微天平，三維形貌儀，輪廓儀，原子力顯微鏡（AFM），掃描探針顯微鏡（SPM），摩擦磨損試驗機，瓶蓋扭矩測量儀，軸承扭矩測量儀，高頻疲勞試驗機。

簡介：
美國AEP Technology公司主要從事半導(dǎo)體檢測設(shè)備, MEMS檢測設(shè)備, 光學(xué)檢測設(shè)備的生產(chǎn)制造，是表面測量解決方案行業(yè)的供應(yīng)者,專門致力于材料表面形貌測量與檢測。公司始終致力于微觀表面“三維”檢測技術(shù)和設(shè)備的研發(fā)及推廣，歷經(jīng)近十年努力，已為30多個提供NanoMap系列三維表面形貌測量系統(tǒng)。
NanoMap-LS三維表面形貌/輪廓儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將臺階儀帶入了另一個測量的新時代。
特點：
1.     全自動軟件控制
2.     0.1到100 mg接觸力
3.     垂直分辨率可達0.1nm 。
4.     每次掃描少1 0 0點，多可達1 5 0 ,0 0 0數(shù)據(jù)點
5.     一體化彩色攝像機在掃描同時可直接觀察樣品
6.     簡單一鍵操作與用戶友好的操作界面

應(yīng)用領(lǐng)域：
測量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，對于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高，穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類產(chǎn)品zui低的。

主要技術(shù)參數(shù)
垂直分辨率: 0.1nm
重復(fù)性: 0.54 nm(1Sigema @1um)
垂直范圍: 524um（1mm可選）
掃描范圍: 150mm x 150mm

NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀
NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀
NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀







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