晶振頻率測試儀GDS-80M系列是高性價(jià)比的晶振測試系統(tǒng)，采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)智能化測量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz，附USB接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通迅。

2005年創(chuàng)立于深圳，是我國zui早、zui具實(shí)力的石英鐘表測試儀、時(shí)鐘測試儀、晶振測試儀、晶體阻抗計(jì)、秒表檢定儀、時(shí)間檢定儀生產(chǎn)供應(yīng)商之一，多年來致力于多種電子測量儀器的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售，擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的核心技術(shù)。歷經(jīng)多年成長，公司已相繼開發(fā)出多款時(shí)鐘測試儀、晶振測試儀、晶體阻抗計(jì)，頻率范圍從32K到100M之 間任意頻點(diǎn)都可預(yù)定，結(jié)合各電子工廠生產(chǎn)線環(huán)境的不同，不斷優(yōu)化儀器抗干擾性能和探測靈敏度。以適應(yīng)不同電子產(chǎn)品對時(shí)鐘測量的要求?，F(xiàn)銷往全國三十多個(gè)市及海外多個(gè)國家。按國網(wǎng)要求我國電能表時(shí)鐘精度必須滿足日誤差不超過0.02秒 ,現(xiàn)我司推出的GDS-5B電能表時(shí)鐘測試儀日誤差到0.001秒完全符合國網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn) ，儀器附帶上位機(jī)軟件，連接電腦統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)修正時(shí)鐘誤差，所有儀器出廠都經(jīng)過釹鐘源頻標(biāo)校準(zhǔn)，按客戶要求可出國家計(jì)量證書，我司資深技術(shù)人員長期為企業(yè)研發(fā) 工程師提供時(shí)鐘產(chǎn)品技術(shù)支持，幫助工程師解決研發(fā)過程中遇到的難題，歡迎來電咨詢。

無源晶振稱為石英晶體諧振器，其參數(shù)很多。較簡易的方法，可以搭載一個(gè)振蕩電路，用頻率計(jì)測量頻率，并替代電阻法，等效得出晶振諧振電阻。并用電容表直接測量晶振靜態(tài)電容。但由于振蕩槽路不平衡，較難測出準(zhǔn)確數(shù)值。
用阻抗計(jì)測量?？梢暂^容易測量到Fs、Rr、C0、FL、Ts、CL等參數(shù)值，并可通過計(jì)算得出其它相關(guān)參數(shù)。缺點(diǎn)阻抗計(jì)一般數(shù)度有限，頻率值一般誤差在5ppm左右，其支架電感的嚴(yán)重影響，使串聯(lián)諧振頻率相位移較大，同時(shí)又干擾正確測量負(fù)載諧振頻率。另外，其測量有一定的局限性，只能測量質(zhì)量因數(shù)大于60以上的晶振，也不能進(jìn)行功率掃描和寄生掃描。
網(wǎng)絡(luò)分析儀測量。分為專用和通用兩種。專用網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)置簡單，可以進(jìn)行全部晶振參數(shù)的測量，但不能它用。通用的網(wǎng)絡(luò)分析儀，設(shè)置較為繁雜，測量參數(shù)有限，但可以通過計(jì)算獲得。

晶振測試儀GDS-80系列 一、產(chǎn)品簡介

晶振頻率測試儀GDS-80M系列是高性價(jià)比的晶振測試系統(tǒng)，采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)智能化測量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz，附USB接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通迅。

晶振頻率測試儀GDS-80M系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負(fù)載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負(fù)載諧振電阻RL、負(fù)載電容CL、動(dòng)態(tài)電容C1、動(dòng)態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能，負(fù)載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運(yùn)算克服了市場上晶振測試設(shè)備使用實(shí)體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點(diǎn)、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。

晶振頻率測試儀GDS-80M依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：

SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第一部分：用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》；

SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第二部分測量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法》；

GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》 ；

---

二、主要技術(shù)指標(biāo)    

1.      中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設(shè)定

2.      掃描范圍：±1000ppm（默認(rèn)±400ppm）  

3.      負(fù)載電容：1-100P 任意設(shè)定

4.      串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認(rèn)±400ppm）  測量精度：±5ppm

5.      串聯(lián)諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K  （2±10%*R KΩ）

6.      負(fù)載電容CL測量范圍：1-200PF

7.      時(shí)基誤差：±1ppm 

8.      負(fù)載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時(shí)基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts

9.      配件：插件式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（標(biāo)配），貼片式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（選配），插件式表晶測試座（選配），貼片式表晶測試座（選配），2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件（選配），通信軟件（僅GDS-80P/S）。

本頁產(chǎn)品地址：http://18bearing.com/sell/show-9458705.html