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IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE
專業(yè)從事電子產(chǎn)品分析測(cè)試設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售，以及國外**設(shè)備代理,探針臺(tái)probe 開封機(jī)decap 微光顯微鏡emmi 紅外顯微鏡 iv自動(dòng)曲線量測(cè)儀 失效分析可靠性測(cè)試FIB,切割研磨機(jī)rie，電子顯微鏡sem等
| 公司名稱 | 儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司 | 公司認(rèn)證 | |
|---|---|---|---|
| 注冊(cè)年份 | 2012 | 公司類型 | 公司類型企業(yè)單位 |
| 聯(lián)系人 | sunny | 手機(jī) | 13488683602 |
| 電話 | 13488683602 | 傳真 | 01082825511-728 |
| 地址 | 北京市中關(guān)村軟件園 |
|---|
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