當前位置:給覽網(wǎng) » 公司 » 北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
- 材料電學性能測試儀
- 壓電材料測試儀
- 介電測試儀
- 壓電材料電阻率綜合測試儀
- 材料分析儀
- 石英玻璃密封管
- 壓電極化裝置
- 梯溫析晶測定儀
- 熱電材料測試
- 高溫鐵電材料測試儀
- 鐵電材料綜合測試儀
- 熱敏電阻材料
- 高溫介電測試儀
- 高低溫介電測量儀
- d33測量儀
- 準靜態(tài)d33測量儀
- 材料電磁性能測試
- 材料阻抗分析儀
- 高低溫壓電d33測量系統(tǒng)
- 熱釋電系數(shù)高溫測試系統(tǒng)
- 高溫氣敏材料測量系統(tǒng)
- 高溫熱敏電阻材料參數(shù)測量分析系統(tǒng)
- 電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)
- 高溫超導材料交流磁化率測量儀
- 居里點溫度測試儀
- 變溫光譜測試系統(tǒng)
- 電卡效應(yīng)測試儀
- 壓電放大器
- 鐵電測試儀
- D33測試儀
- 材料制樣設(shè)備
- 電陶瓷壓片機
- 可計量型蠕動泵蒸汽發(fā)生器
- 壓電高壓極化裝置
- 真空封管機
- 熱壓機
- 真空手套箱
- 實驗型噴霧干燥機
- 球磨機
- 智能型管式梯溫爐
- 多模具型熱壓機
- 壓電陶瓷高低溫試驗箱
- 快速退火爐
- 原位高溫成像燒結(jié)試驗儀
- 開煉機
- 淬火爐
- 質(zhì)量控制檢測儀
- 垂直度檢測儀
- 水平示值檢定儀
- 水平零位檢定器
- 數(shù)顯指示表檢定儀
- 全自動指示表檢定儀
- 沖床生產(chǎn)遠程自動統(tǒng)計系統(tǒng)
- 位移傳感器自動校準裝置
- 沖床生產(chǎn)遠程自動統(tǒng)計系統(tǒng)
- 非接觸式靜電電壓表校準裝置
- 小角度儀
- 數(shù)控指示表檢定儀
- 電陶瓷壓片機
- 材料電磁學性能測試儀
- 微波介質(zhì)材料電磁特性
- 電梯加速度測試儀
- 扶梯安全測試儀
- 咪表檢定裝置
- 太陽能電池測試儀
- 四探針測試儀
- 雙極板質(zhì)子交換膜燃料電池測系統(tǒng)
- 材料磁致伸縮測量儀
- 微擾法復介電常數(shù)測試系統(tǒng)
- 材料樣品高低溫冷熱臺
- 毛細管樣品冷熱臺
- 地質(zhì)流體包裹體冷熱臺
- 輪廓儀
- 粗糙度儀
- 凸輪軸測量儀
- 高阻檢定裝置
- 數(shù)字式高阻檢定裝置
- 壓力容器聲發(fā)射儀
- 位移激光測微儀
- 氧化鋅避雷器測試儀校準裝置
- 非金屬熔接焊機檢測校準裝置
- 多功能二維材料轉(zhuǎn)移平臺
- 高低溫冷熱臺
- 材料熱學性能測試儀
- 材料熱導率系數(shù)測試儀
- 界面材料熱阻及熱傳導系數(shù)量測裝置
- 全溫區(qū)定位高溫梯度爐
- 材料高低溫熱膨脹測試系統(tǒng)
- 材料高溫比熱容測試儀
- 全自動材料高溫比熱容測試儀
- 熱分析儀
- 激光導熱測試儀
- 材料電化學實驗設(shè)備
- 電化學腐蝕摩擦磨損試驗儀
- 材料表面性能綜合試驗儀
- 新能源鋰空氣電池測試箱
- 皮安電流表
- 金屬絲材導電率綜合測試儀
- 變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng)
- 美國吉時利精密源表
- 材料高溫電學測試儀
- 導電材料高溫電阻率測試儀
- 形狀記憶合金特性測試系統(tǒng)
- 高低溫方阻測試系統(tǒng)
- 高溫介電溫譜儀
- 高溫熔融電導率測試裝置
- 玻璃熔體電阻率試驗儀
- 高溫絕緣電阻儀
- 高溫絕緣材料電阻測試儀
- 高溫鐵電測試儀
- 高溫壓電D33測試系統(tǒng)
- 自動化實驗設(shè)備
- 氧化誘導實驗制樣機
- 臺式顆粒制樣機
- 電熔拉伸剝離試樣制樣機
- 薄膜50點自動耐電壓強度測試儀
- 薄膜電弱點測試儀
- 復合材料超低溫拉伸性能測試儀
- 管道防腐層陰極剝離試驗機
- 柔性材料測試設(shè)備
- 絲網(wǎng)印刷機
- 柔性材料及器件測試系統(tǒng)
- 薄膜材料
- 電池材料
- 薄膜電阻綜合測試測試儀
- 絕緣及抗靜電材料電阻率儀
- 薄膜雙向拉伸儀
- 光學測試測試系統(tǒng)
- 進口設(shè)備
- 高頻電刀校準裝置
- 鐵電測試儀
- 航空航天測試儀
- 飽和磁性分析儀
- 摩擦納米發(fā)電機測試系統(tǒng)
- 電輸運性質(zhì)測量系統(tǒng)
- 半導體材料設(shè)備
- 微流控芯片真空熱壓機
- 探針臺
- 半導體C-V特性分析儀
- 新能源和儲能
- 固態(tài)電池壓力絕緣模具套裝
- 焦耳熱測試儀
- 脈沖電閃蒸反應(yīng)器
- 超快高溫爐
- 新能源線束高壓測試系統(tǒng)
- 新能源電池測試
- 教學儀器
- 淬冷法相平衡實驗儀
- 固相反應(yīng)實驗儀
- 傳感器
- 碳材料測試儀
- 材料高溫力學測試系統(tǒng)
- 材料高低溫洛氏硬度計
- 先進材料測試儀器
- 擊穿及耐壓測試儀
- 無損檢測儀
- 靜電計
- 磁性測試
- 絕緣材料測試
公司名稱:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
聯(lián)系人:謝經(jīng)理
電話:010-60414386
手機:18210063398
傳真:010-60414386
郵件:2822343332@qq.com
地址:北京順義北小營
毫米波的材料介電常數(shù)怎么測試出來的?
發(fā)布時間:2019-11-12瀏覽次數(shù):1831返回列表
毫米波(mm Wave)頻率曾經(jīng)是為研究與開發(fā)(R & D)保留的一段頻譜。但是,現(xiàn)在毫米波已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。隨著汽車駕駛輔助系統(tǒng)(ADAS)及其毫米波雷達安全系統(tǒng),和第五代(5G)蜂窩通信技術(shù)擴展到更高頻率,毫米波頻率將被數(shù)十億人使用。這就意味著,支持28 GHz或者更高頻率的PCB線路板材料的需求也將不斷增長。表征此類如此高頻率的電路線路板材料,例如頻率在80GHz左右,需要測量材料在毫米波頻率下的介電常數(shù)(Dk)或相對介電常數(shù)。然而,在這么高的頻率范圍內(nèi),尚未有確定的行業(yè)標準。
介電常數(shù)是大多數(shù)線路板材料要關(guān)注的特性,因為它影響電路的工作頻率下的尺寸。由于波長隨著頻率的增加而減小,特別是在毫米波頻率下,電路尺寸會變得非常小,因此準確地知道電路材料的Dk是很重要的。本質(zhì)上,材料的Dk或相對介電常數(shù)可以定義為材料在兩個金屬板之間時存儲的電荷量與金屬板之間是真空或空氣時存儲的電荷量之比。真空的Dk是“1”,而其他任何材料的Dk都高于真空。
Dk的基礎(chǔ)知識
大多數(shù)線路板材料供應(yīng)商使用的測量方法都是公認的行業(yè)標準方法,并且在特定的測試頻率下測得,如10GHz或以下。在毫米波頻率下,也有一些測量線路板材料Dk的方法,但這些方法均不如在低頻率下使用的測試方法那樣眾所周知。
在毫米波頻率下測量Dk值有哪些困難呢?測量一個材料的Dk值,要么在被測原材料(MUT)上進行測試,要么將原材料加工成某種形式的參考電路,在該電路上進行測試。無論是射頻,微波還是毫米波頻率,線路板材料的Dk特性通常是具有各向異性的。因此,在利用測試方法確定材料的Dk值時,還需要先確定是測試材料的Z軸(厚度方向)或X-Y平面(材料的長度和寬度)的Dk。對于不同的材料方向,這些值通常是不同的,并且通常是頻率的函數(shù)。因此對于毫米波電路設(shè)計工程師,不能假設(shè)Z軸上10 GHz處的Dk值等于相同材料下XY平面上60GHz處的Dk值。在毫米波頻率下的測量電路材料Dk,對于許多即將到來的毫米波應(yīng)用及其電路設(shè)計工程師來說都是非常重要的。
篩選候選標準
現(xiàn)在已經(jīng)有許多方法可以測定毫米波頻率下材料的Dk值。但是還沒有一種方法被諸如IEEE或IPC這樣的技術(shù)標準組織接受為工業(yè)標準的測試技術(shù)。然而,一些Dk測試方法提供了非常好的測量精度和可重復性,使它們能成為毫米波Dk測量標準的候選者。
微帶差分相位長度法就是其中一種能夠作為潛在標準的毫米波Dk測量技術(shù)。這是一種基于電路的測試方法。該方法,在被測材料上制作多個不同長度的50歐姆的微帶傳輸線電路,這樣,通過測量兩個電路的相位角差異,就可以得到被測材料的Dk特性。由于被測材料的Dk可能會生變化,因此在確定該材料的dk時,兩個微帶電路應(yīng)盡可能靠近,以盡量減少材料Dk變化帶來的影響??梢允褂玫?,頻率覆蓋范圍高達110GHz的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA),測試MUT上兩個不同長度微帶電路的S參數(shù)和相位測量。
另一種在毫米波頻率下確定線路板材料Dk值的方法是環(huán)形諧振器法,其中環(huán)形諧振器是在MUT上制作的測試電路。這些諧振電路的尺寸和設(shè)計參數(shù)能詳細的反映諧振頻率。當在MUT上加工一個環(huán)形諧振器時,通過測量諧振頻率就能準確的反推出材料的介電常數(shù)等信息。通過使用VNA測量毫米波頻率下的間隙耦合環(huán)形諧振器的響應(yīng),并將這些響應(yīng)與商用電磁(EM)場計算軟件提供的基于數(shù)值的結(jié)果進行比較,可以根據(jù)輸入到軟件中的電路尺寸和條件提取出MUT的Dk值。
當然,在實際應(yīng)用中,尤其是對于毫米波電路的尺寸,電路尺寸和公差可能會導致測量的諧振頻率發(fā)生變化,從而導致被測材料的Dk值產(chǎn)生誤差。導體寬度和電路基板(MUT)的厚度變化也會影響環(huán)形諧振器的頻率。此外,環(huán)形諧振器電路上的銅箔厚度在整個線路板上也可能不同。電路銅厚度的變化會對間隙耦合環(huán)形諧振器的耦合和諧振頻率產(chǎn)生影響,因此,在應(yīng)用環(huán)形諧振器測試方法確定毫米波頻率下線路板材料的Dk時,將電路銅厚度變化降至zui低是至關(guān)重要的。
上面提到的方法,是眾多成熟的線路板材料Dk值測試技術(shù)的兩個個經(jīng)典方法,可作為在毫米波頻率下測量和確定線路板材料Dk的行業(yè)標準方法。這兩種都是基于電路的測試方法,也可以使用其它基于原材料的測試方法。
材料產(chǎn)業(yè)也迎來了5G新時代,在應(yīng)用端手機、基站、物聯(lián)網(wǎng)、汽車等硬件載體都將對5G新材料有更多的需求和更高的要求。
(本文內(nèi)容來源于網(wǎng)絡(luò),如有侵權(quán)請聯(lián)系我們刪除)