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TFVT-1000型薄膜變溫電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TFVT-1000型薄膜變溫電阻測(cè)試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴(kuò)展）的測(cè)試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來(lái)分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點(diǎn)。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導(dǎo)電材料的電阻率測(cè)量。是目前科研和生產(chǎn)的重要材料測(cè)量設(shè)備。
價(jià)格：面議
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GWJDN-300型 三兼容多用途高溫介電溫譜儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：GWJDN-300高溫介電溫譜儀是一款專門用于評(píng)估電介質(zhì)材料高溫介電機(jī)制（材料極化、儲(chǔ)能、馳豫、相變、微結(jié)構(gòu)變化、分子團(tuán)重新取向等）的重要測(cè)量系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量介電常數(shù)、介電損耗和阻抗、相位隨溫度、頻率變化的關(guān)系，直接得出電介質(zhì)材料的溫度譜、頻率譜、阻抗譜、Cole-Cole圖等重要的物理性能參數(shù)。高溫介電溫譜儀是
價(jià)格：面議
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BKTEM-S4型熱電賽貝克系數(shù)測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：BKTEM-S4型熱電賽貝克系數(shù)測(cè)試儀熱功率、熱電勢(shì)、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小，單位是V/K。??近年來(lái)直接將熱能轉(zhuǎn)化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過(guò)熱電裝置收集熱發(fā)動(dòng)機(jī)和燃燒系統(tǒng)余熱并轉(zhuǎn)換成電能可以節(jié)省數(shù)十億美元。?? BKTEM-S4型熱電賽貝克系數(shù)測(cè)試儀為了應(yīng)對(duì)一系列挑
價(jià)格：面議
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JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀是一款兼容高溫功能的精密阻抗分析儀，是一款能夠應(yīng)用于先進(jìn)材料測(cè)試的多功能復(fù)合型精密阻抗分析儀，該阻抗分析儀可以兼容多種高溫夾具，可以測(cè)試粉末，液體，塊體等多種不同類型的樣品。常溫下測(cè)試數(shù)據(jù)豐富，高溫下測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，無(wú)漂移。是一款兼顧中高端頻率的精密阻抗分析儀。在
價(jià)格：面議
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TSC（TSDC）-5000熱刺激電流測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡(jiǎn)單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測(cè)量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐極體等）的微觀參數(shù)，熱刺激法是一面對(duì)材料升溫一面進(jìn)行測(cè)量，即非等溫測(cè)量。由于材料（例如介電材料）中的荷電粒子的微觀參數(shù)（如活化能h、松弛時(shí)間τ等）不同，用熱
價(jià)格：面議
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HTIM-600C 高溫電阻率測(cè)試儀（提供CNAS計(jì)量認(rèn)證）
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：HTIM-600高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備，可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量
價(jià)格：面議
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GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面?；赪indows10操作系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面。讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。
價(jià)格：面議
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GWJDN-400型2MHZ自動(dòng)平衡高溫介電溫譜儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：主要功能：材料介電常數(shù)測(cè)試儀半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性性能特點(diǎn):溫度：RT-1000℃測(cè)試頻率: 20Hz- 21MHz, 分辨率:最高0.1mHz基本精度: 0.05%測(cè)試速度:最快5. 6ms/次
價(jià)格：面議
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GW-JDZK高溫介電溫譜阻抗分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：GW-JDZK高溫介電溫譜阻抗分析儀（溫度：1000℃，頻率：10HZ-20MHZ）提供頻率（10 Hz 至20MHz），可在不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量。其等效電路分析功能支持7種不同的參數(shù)模型(三組件、四組件)，可協(xié)助客戶仿真組件的等效參數(shù)值。并支持
價(jià)格：面議
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XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：諧振腔法是一種重要的材料測(cè)量方法，具有廣泛的應(yīng)用前景。隨著科技的不斷發(fā)展，諧振腔法將會(huì)在材料科學(xué)、電子工程、通信技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮越來(lái)越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測(cè)試儀是為中低損耗材料、均質(zhì)材料、小樣品測(cè)試等需求而開發(fā)的一款高精度高性價(jià)比的材料測(cè)試平臺(tái)。
價(jià)格：面議
