圖庫說明
紫外可見分光光度計/可見分光光度計 型號 DP-754
儀器簡介：
DP-754型紫外可見分光光度計適用于對紫外、可見光譜區(qū)域內(nèi)物質(zhì)的含量進行定量分析，可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農(nóng)業(yè)、食品、生化、環(huán)保、石油化工、醫(yī)療衛(wèi)生等單位的基礎實驗室。
技術參數(shù)：
DP-754型紫外可見分光光度計技術參數(shù)：
1. 帶寬：4nm
2. 透射比準確度：±0.5%T
3. 透射比重復性：±0.2%T
4. 波長范圍：190～1100nm(步進間隔0.1nm)
5. 波長準確度：±1.0nm(開機自動校準)
6. 波長重復性：0.5nm
7. 測定范圍：T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F(xiàn)：0～9999，C：0～9999
8. 雜散光：≤0.3%T(在220nm、340nm處))
9. 穩(wěn)定性/基線漂移：±0.002A/h
10. 顯示器：128×64大屏幕液晶顯示
11. 外形尺寸：456*375*220(mm)
軟件功能說明：DP-754型紫外可見分光光度計適用于數(shù)據(jù)處理軟件進行實驗測試和數(shù)據(jù)處理
主要特點：
DP-754型紫外可見分光光度計產(chǎn)品特點：
1. 自動波長，鍵盤輸入，波長設定和轉(zhuǎn)換更快速。
2. 多可建立12個標樣點的標準曲線，標定曲線擬合度，可保存50條曲線參數(shù)，可保存200條測試記錄。
3. 系統(tǒng)時鐘管理，燈源管理，USB數(shù)據(jù)接口。
4. 暗電流校正，波長校正，燈切換波長設置。
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