型號

Winner99E

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008

顯微

系統(tǒng)

物鏡

4X、10、40、60、100（油）長距消色差（平場）物鏡組

目鏡

1X、10、16X 大視野攝像目鏡

載物臺

手動三維機(jī)械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，

移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，

微動格值：2μm,帶鎖緊和限位裝置

光源

底部透射光源，鹵素?zé)艉蚅ED光可選,亮度可調(diào)。頂部金相落射式光源（帶起偏振器）

總放大倍數(shù)

4倍——1600倍

攝像

系統(tǒng)

zui高分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/2英寸CMOS

幀率

6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480

zui高清晰度

> 1000 line

信噪比

小于42dB

敏感度

1.0V@550nm/lux/S

輸出方式

USB2.0

實際觀測范圍

1-6000μm

軟件功能

圖像采集

采集樣品形貌圖像，保存JPG格式

圖像拼接

將多幅圖片進(jìn)行無縫拼接,測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張?zhí)幚肀４婧笤龠M(jìn)行拼接，進(jìn)一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性。

圖像處理

提供灰度化，二值化（動態(tài)、自動、自適應(yīng)方法），圖像消藍(lán)、平滑濾波、光照不均勻校正、邊界檢測、均衡化、圖像平滑、圖像收縮、圖像膨脹、消除飛點、消除空心、消除邊界黑點、消除粘連、手動標(biāo)注、任意角度旋轉(zhuǎn)等算法操作

顆粒的自動處理工具集

自動自適應(yīng)二值化、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動填補(bǔ)顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣、自動消除顆粒粘連、自動獲取粒徑粒形參數(shù)等12項自動處理工具。

球狀顆粒處理

針對球狀顆粒復(fù)雜粘連顆粒采用特有算法，可以直接求出樣品的粒徑參數(shù)和分布。

比例尺標(biāo)定

通過標(biāo)準(zhǔn)測微尺標(biāo)定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。

單個顆粒數(shù)據(jù)

可在圖片上直接對單個顆粒進(jìn)行截面積、、粒徑、長徑比、球形度等10多項參數(shù)的分析顯示。

任務(wù)管理機(jī)制

嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。

報告輸出

將測試結(jié)果輸出為報告，并可以自由修改報告樣式。

報告

參數(shù)

特征參數(shù)

D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)

頻率分布與累計分布

顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。

統(tǒng)計平均徑

Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑

形狀參數(shù)

長徑比、龐大率、球形度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù)

個數(shù)統(tǒng)計

直接得到所觀測的顆粒數(shù)量

樣品縮略圖

可以將樣品彩色或黑白（可選擇）縮略圖顯示到報告中

表頭輸入

可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中