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價(jià)格:電議
所在地:江蘇 泰州市
型號:
更新時(shí)間:2023-11-27
瀏覽次數(shù):1386
公司地址:江蘇
韓一一(女士)
ZEM-5熱電性能分析系統(tǒng)
技術(shù)特點(diǎn):
· 適用于研究開發(fā)各種熱電材料和薄膜材料,提高測量精度
· 溫度檢測采用C型熱電偶,適合測量Si系列熱電材料(SiGe, MgSi等) *HT型
· 真正可測基板上的納米級薄膜(TF型)
· zui大可測10MΩ高電阻材料
· 標(biāo)準(zhǔn)搭載歐姆接觸自我診斷程序并輸出V/I圖表
· 基于日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JIS (熱電能JIS 電阻率JIS R 1650-2)
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ZEM-5HT |
ZEM-5HR |
ZEM-5LT |
ZEM-5TF |
特 點(diǎn) |
高溫型 |
高電阻型 zui大電阻:10MΩ |
低中溫型 |
薄膜型 可測在基板上形成的熱電薄膜 |
溫度范圍 |
RT-1200℃ |
RT-800℃ |
-150℃-200℃ |
RT-500℃ |
樣品尺寸 |
直徑或正方形:2 to 4 mm2 ; 長度3 ~ 15mm |
成膜基板:寬2-4mm,厚0.4-12mm,長20mm 薄膜厚度:≥nm量級 薄膜樣品與基板要求緣 |
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控溫精度 |
±0.5K |
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測量精度 |
塞貝克系數(shù):<±7%; 電阻系數(shù):<±7% |
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測量原理 |
塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電; 電阻系數(shù):四端法 |
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測量范圍 |
塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K; 電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ |
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分辨率 |
塞貝克系數(shù):10nV/K; 電阻系數(shù):10nOhm |
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氣 氛 |
減壓He |
詢價(jià)標(biāo)題 | |
聯(lián)系人 | |
電話 | |
主要內(nèi)容 | |
驗(yàn)證碼 | |