徠卡正置金相顯微鏡DM4M，德國進口高倍顯微鏡，可配接自動掃描臺進行多視場非金屬夾雜物和顆粒度分析、汽車清潔度分析系統(tǒng).具備明場、暗場、偏光、干涉等多種觀察方式。

DM4M研究級半自動智能數(shù)字式正置金相顯微鏡，適合金屬、陶瓷、高分子材料、電子元器件、粉塵顆粒等樣品的觀察分析
模塊化設計，可實現(xiàn)反射觀察、透反射觀察配置
復消色差光路，整體光路支持25mm視野直徑
6孔位物鏡轉盤，配接32mm直徑工業(yè)物鏡
觀察方式可實現(xiàn)明場、暗場、偏光、干涉
機身內置LED的透、反射照明電源，智能光強變化的控制照明方式
能自動記憶在不同物鏡下和不同觀察方式下佳的光強、光闌大小及聚光鏡的組合，自動恢復到位，操作簡單快速。
高倍顯微鏡機座帶液晶顯示屏顯示顯微鏡各部件工作狀態(tài)、參數(shù)
光強、光闌、觀察方式調節(jié)和聚光鏡調節(jié)除可由按鍵控制外，還可由計算機控制操作
可自動在不同倍數(shù)物鏡倍數(shù)下拍的照片中加相應倍數(shù)標尺

徠卡金相顯微鏡DM4M結構圖

產品特點 Infocation

手動檢查

使用 Leica DM4 M 進行手動例程檢查，您可輕松調用之前的顯微鏡設置并通過獨特的軟件功能“保存和調用”(Store and Recall) 即時復制成像參數(shù)。適用于任何類型的樣本。一鍵式“智能自動化”可讓您輕松搞定重復性工作。這些具有記憶功能的顯微鏡可幫您減少培訓時間、改進工作流程和獲得出色的成像結果—始終如一。

照明管理器

LED照明有助于結果的可復制，無論您以明場(BF)、高動態(tài)暗場(HDF)、微分干涉相襯(DIC)、熒光(FL) 還是偏振 (POL)狀態(tài)工作。可在任何顯微鏡設置下以恒定的色彩溫度查看您的樣品：無需每次亮度改變時都重置攝像頭或調節(jié)白平衡。

率的篩選

節(jié)省寶貴時間：憑借照明管理器 (Illumination Manager) 和相襯管理器 (Contrast Manager)，顯微鏡能夠自動識別所選的相襯方法和正在使用的物鏡，準確打開和關閉孔徑光闌和視場光闌，且調整光線強度。共享和比較您的結果—隨時隨地！通過Leica顯微鏡副助手 (Leica Microscope Assistant，Leica LAS“保存和調用”模塊) 保存和調用顯微鏡設置和攝像頭參數(shù)。它們隨圖像一同保存和歸檔，并可隨時恢復。