功率器件靜態(tài)測試儀半導體功率測試設(shè)備集多種測量和分析功能一體,可以精準測量功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。

武漢普賽斯儀表自主研發(fā)的臺式數(shù)字源表、插卡式源表、窄脈沖電流源、VCSEL測試系統(tǒng)等，填補國產(chǎn)空白。主要應用于半導體器件的測試工藝，為客戶提供模塊化硬件、高效驅(qū)動程序和高效算法軟件組合，幫助用戶構(gòu)建自定解決方案。為半導體封測廠家提供相關(guān)測試儀表、測試平臺，以及相關(guān)技術(shù)服務(wù)，滿足行業(yè)對測試效率、測試精度，以及低成本的挑戰(zhàn)。

武漢普賽斯將以服務(wù)客戶為中心，追求可持續(xù)發(fā)展，精益求精，堅持不懈，努力將自身打造成行業(yè)標桿。

普賽斯儀表www.whpssins.com

武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司是一家高科技企業(yè)，專業(yè)研究和開發(fā)光通信器件產(chǎn)線監(jiān)測和測試方案和自動化測試設(shè)備。產(chǎn)品覆蓋CHIP、BAR、TO、OSA等器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產(chǎn)線?？蛻舭ǎ喝A為、海思、中興、光迅、海信、正源光子、旭創(chuàng)等，公司旨在為光電器件生產(chǎn)企業(yè)提供服務(wù)，針對產(chǎn)線生產(chǎn)的痛點問題，模擬現(xiàn)實應用環(huán)境，進行半導體光器件性能指標生產(chǎn)監(jiān)測和測試，實現(xiàn)產(chǎn)品生產(chǎn)過程實時可監(jiān)控、可追溯。具有綜合性、完備性、穩(wěn)定性、半自動化或自動化等特點，從而提高用戶產(chǎn)線產(chǎn)品的生產(chǎn)效率、可靠性、穩(wěn)定性、一致性。

 

普賽斯IGBT功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),集多種測量和分析功能一體,可以精準測量IGBT功率半導體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、納安電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。功率器件靜態(tài)測試儀半導體功率測試設(shè)備認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；

圖5:IGBT測試系統(tǒng)圖

    普賽斯IGBT功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)配置由多種測量單元模塊組成,系統(tǒng)模塊化的設(shè)計能夠極大方便用戶添加或升級測量模塊,適應測量功率器件不斷變化的需求。

“雙高”系統(tǒng)優(yōu)勢

    高電壓、大電流

    具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達3500V(Z大可擴展至10kV)

    具有大電流測量/輸出能力,電流高達6000A(多模塊并聯(lián))

    高精度測量

     納安級漏電流,μΩ級導通電阻

    0.1%精度測量

    模塊化配置

    可根據(jù)實際測試需要靈活配置多種測量單元系統(tǒng)預留升級空間,后期可添加或升級測量單元

    測試效率高

    內(nèi)置專用開關(guān)矩陣,根據(jù)測試項目自動切換電路與測量單元

    支持國標全指標的一鍵測試

    擴展性好

    支持常溫及高溫測試可靈活定制各種夾具

“魔方”式的系統(tǒng)組成

   普賽斯IGBT功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),主要由測試儀表、上位機軟件、電腦、矩陣開關(guān)、夾具、高壓及大電流信號線等構(gòu)成。整套系統(tǒng)采用普賽斯自主開發(fā)的靜態(tài)測試主機,內(nèi)置多種電壓、電流等級的測量單元。結(jié)合自主開發(fā)的上位機軟件控制測試主機,可根據(jù)測試項目需要,選擇不同的電壓、電流等級,以滿足不同測試需求。

   系統(tǒng)主機的測量單元,主要包括普賽斯P系列高精度臺式脈沖源表、HCPL系列高電流脈沖電源、E系列高壓源測單元、C-V測量單元等。其中,P系列高精度臺式脈沖源表用于柵極驅(qū)動與測試使用,Z大支持30V@10A脈沖輸出與測試;HCPL系列高電流脈沖電源用于集電極、發(fā)射極之間電流測試及續(xù)流二極管的測試,15us的超快電流上升沿,自帶電壓采樣,單設(shè)備支持Z大1000A脈沖電流輸出;E系列高壓源測單元用于集電極、發(fā)射極之間電壓、漏電流測試,Z高支持3500V電壓輸出,并且自帶電流測量功能。系統(tǒng)的電壓、電流測量單元,均采用多量程設(shè)計,精度為0.1%。

國標全指標的“一鍵”測試項目

   普賽斯現(xiàn)在可以提供完整的IGBT芯片和模塊參數(shù)的測試方法,可以輕松實現(xiàn)靜態(tài)參數(shù)l-V和C-V的測試，最終輸出產(chǎn)品Datasheet報告。這些方法同樣適用于寬禁帶半導體SiC和GaN功率器件。

IGBT靜態(tài)測試夾具方案

   針對市面上不同封裝類型的IGBT產(chǎn)品,普賽斯提供整套夾具解決方案,可用于TO單管、半橋模組等產(chǎn)品的測試。

    普賽斯以自主研發(fā)為導向,深耕半導體測試領(lǐng)域，在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗,先后推出了直流源表、脈沖源表、高電流脈沖源表、高電壓源測單元等測試設(shè)備,廣泛應用于高校研究所、實驗室、新能源、光伏、風電、軌交、變頻器等場景。更多有關(guān)功率器件靜態(tài)測試儀半導體功率測試設(shè)備的詳情認準“普賽斯儀表”咨詢，詳詢一八一四零六六三四七六；

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