鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測試儀FeRAM (Ferroelectric Random Access Memory) Cell Tester內(nèi)存窗口信息是基于對器件完全集成后進(jìn)行模擬電滯回線測量后得出的。應(yīng)用領(lǐng)域：鐵電存儲(chǔ)器的生產(chǎn)生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，以便不會(huì)影響到CMOS生產(chǎn)過程在MHz的操作速度下，單級電滯回線數(shù)據(jù)

北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司是一家主要是從事精密儀器設(shè)備，我們同中國科學(xué)院，北京科技大學(xué)，清華大學(xué)，上海交通大學(xué)，北京航空航天大學(xué)等建立了合作和研究中心，目前我們主要在安全控制設(shè)備，計(jì)量檢測設(shè)備，科學(xué)材料研究設(shè)備，3D打印及空間技術(shù)的研發(fā)和銷售，我們將同國內(nèi)的科研機(jī)構(gòu)和高等院校進(jìn)行更加廣泛的合作，服務(wù)于國內(nèi)和國外廣大客戶，我們將提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)服務(wù)，共同開拓進(jìn)取。

我們?yōu)槟闾峁┎牧媳碚鳒y量的一系列產(chǎn)品：

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一表征：壓電材料d33測量儀
1、ZJ-3型壓電測量儀

2、ZJ-4型d33測量儀

3、ZJ-5型積層壓電測試儀

4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測量儀

5、ZJ-7型高溫壓電測試儀

★壓電極化裝置

1、PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-4片）

2、PZT-JH10/8壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-8片）

3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置（20KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高壓真空，空氣極化裝置（20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣）

★ 壓電制樣裝置

1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機(jī)（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30電動(dòng)型壓電陶瓷壓片機(jī)（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 鐵電材料測量系統(tǒng)及電滯回線測量系統(tǒng)

1、ZT-4C型綜合鐵電測量系統(tǒng)

2、JKZT-10A鐵電材料綜合參數(shù)測試儀

3、JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)

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第三表征 熱電材料分析測量系統(tǒng)及塞貝克系數(shù)測試儀

1、BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)

2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統(tǒng)

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第四表征 介電材料測試系統(tǒng)

1、 常溫介電測量系統(tǒng)，常溫介電材料測試儀

2、 高溫介電測量系統(tǒng)，高溫介電材料測試裝置

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第四表征磁性材料測試系統(tǒng)

鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測試儀
FeRAM (Ferroelectric Random Access Memory) Cell Tester

內(nèi)存窗口信息是基于對器件完全集成后進(jìn)行模擬電滯回線測量后得出的。

應(yīng)用領(lǐng)域：
鐵電存儲(chǔ)器的生產(chǎn)
生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，以便不會(huì)影響到CMOS生產(chǎn)過程
在MHz的操作速度下，單級電滯回線數(shù)據(jù)

優(yōu)點(diǎn)：
生產(chǎn)過程的工藝優(yōu)化
在MHz范圍的時(shí)間影響測試
適用于2T-2C 設(shè)計(jì)和1T-1C設(shè)計(jì)
從模擬測試數(shù)據(jù)得出內(nèi)存窗口信息
客戶可定制測試環(huán)境
升級服務(wù)
客戶支持

程序功能：
可以在單一器件上進(jìn)行電滯回線、PUND脈沖測試等測試過程。
上升時(shí)間最低可實(shí)現(xiàn)1μm，自定義的測試脈沖可以用于測試不同類型的失效機(jī)制。預(yù)極化脈沖參數(shù)可以在測試序列里單獨(dú)設(shè)置。
可以使用Access Time程序進(jìn)行相同脈沖強(qiáng)度下不同幅值相同脈沖寬度或相同脈沖幅值不同脈沖寬度的測試。
這些測試是基于獨(dú)有的專利技術(shù)：原位寄生電容補(bǔ)償。

特點(diǎn)：
FeRAM測試儀是用來記錄全面的測試單元電滯回線的，測試儀生成所需要的時(shí)間。
如果芯片的布局發(fā)生變化，可以自動(dòng)獲取材料特性較大的陣列。這種情況下，測試儀是用一個(gè)開關(guān)盒和一個(gè)探針臺(tái)工作的。軟件可以自動(dòng)調(diào)整設(shè)置的參數(shù)。
參數(shù)的統(tǒng)計(jì)評價(jià)是通過aixPlorer完成的。
FeRAM測試儀最大的優(yōu)點(diǎn)就是可以使重要信息流程化，從而提高產(chǎn)量，降低了成本，從而減少了產(chǎn)品上市的時(shí)間。相關(guān)的數(shù)字結(jié)果和模擬實(shí)驗(yàn)提供了重要信息。
FeRAM測試儀擁有高分辨測量和速度到微秒的測量功能。

 

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