合能陽光是一家硅材料檢驗儀器及服務(wù)提供商，提供全面的硅料、單晶硅片、多晶硅片等成套檢驗設(shè)備及最優(yōu)解決方案。同時，拉單晶生產(chǎn)所需的輔料也是我公司主營范圍之一。

北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司是一家集科、工、貿(mào)為一體的光伏高科技公司。
近年來，隨著太陽能行業(yè)的飛速發(fā)展，導(dǎo)致硅材料極度緊張，硅材料價格也不斷上漲，使得客戶在選用制造過程用的相關(guān)輔料耗材時，極為慎重，對于太陽能耗材的要求越來越高。合能陽光新能源技術(shù)有限公司在太陽能耗材、儀表、設(shè)備方面積累了多年的經(jīng)驗，為客戶提供了高品質(zhì)的產(chǎn)品和優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。

每一張定單的背后都包含著合能陽光人做事的原則：
------及時發(fā)貨
------優(yōu)質(zhì)包裝
------專業(yè)服務(wù)

我們所提供的不僅是產(chǎn)品，還將為您提供技術(shù)支持，我們在這個行業(yè)中的技術(shù)積累，使我們能夠為用戶解決問題，這也是我們引以為驕傲的角色。
 

【 網(wǎng)址】http://www.henergysolar.com/product/hs-clt.htm

合能陽光少子壽命測試儀(HS-CLT)，是一款功能強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到6000μs，硅料電阻率下限達0.1Ω.cm(可擴展至0.01Ω.cm)。測試過程全程動態(tài)曲線監(jiān)控，少子壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況，是原生多晶硅料及半導(dǎo)體及太陽能拉晶企業(yè)不可多得少子壽命測量儀器。



少子壽命測試儀-產(chǎn)品特點
■測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測量。
■主要應(yīng)用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。
■適用于低阻硅料少子壽命的測量，電阻率測量范圍可達ρ＞0.1Ω?cm（可擴展至0.01Ω?cm），完全解決了微波光電導(dǎo)無法檢測低阻單晶硅的問題。
■全程監(jiān)控動態(tài)測試過程，避免了微波光電導(dǎo)（u-PCD）無法觀測晶體硅陷阱效應(yīng)，表面復(fù)合效應(yīng)缺陷的問題。
■貫穿深度大，達500微米，相比微波光電導(dǎo)的30微米的貫穿深度，真正體現(xiàn)了少子的體壽命的測量，避免了表面復(fù)合效應(yīng)的干擾。
■專業(yè)定制樣品架zui大程度地滿足了原生多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)測試多種形狀的硅材料少子壽命的要求，包括硅芯、檢磷棒、檢硼棒等。
■高，價格遠低于國外國外少子壽命測試儀產(chǎn)品，大程度地降低了企業(yè)的測試成本。



少子壽命測試儀-推薦工作條件
■溫度：23±2℃
■濕度：60%~70%
■無強磁場、不與高頻設(shè)備鄰近



少子壽命測試儀-技術(shù)指標(biāo)
■測試材料：硅半導(dǎo)體材料 - 硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片等，鍺半導(dǎo)體材料。
■少子壽命測試范圍 :1μs-6000μs
■可測低阻硅料下限： 0.1Ω.cm, 可擴展到 0.01Ω.cm
■激光波長： 1.07μm
■激光在單晶硅中的貫穿深度： 500μm
■工作頻率： 30MHz
■低輸出阻抗，輸出功率＞ 1W
■電源：～220V 50Hz 功耗＜50W



少子壽命測試儀-典型用戶
北京，浙江，四川，河北，河南等地的硅料生產(chǎn)企業(yè)及半導(dǎo)體光伏拉晶客戶




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