BOS電話18020748537 納米粒度儀及Zeta電位分析儀
納米粒度儀及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用多角度動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，提供與角度無關(guān)的高分辨率顆粒粒度分布，使用電泳光散射技術(shù)測量Zeta電位。智能化軟件自動調(diào)整散射光強，自動優(yōu)化測量參數(shù)，自動剔除異常散射光數(shù)據(jù)，自適應(yīng)截取相關(guān)函數(shù)，以適應(yīng)不同樣品的測量需求。
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DT-300/310 電聲法zeta電位分析儀
??美國分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù)。?DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、?zeta電位、流變學(xué)、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，乳劑等，并可應(yīng)用于多孔固體。
北京快威科技有限公司是一家代理高科技儀器公司，是由原美國康塔儀器公司中國區(qū)經(jīng)理楊正紅先生領(lǐng)銜，聯(lián)合業(yè)界幾位資深的材料物性
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