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JSX-3400RⅡ 能量分散型熒光X射線元素分析儀 JSX-3400RⅡ

東莞市協(xié)美電子有限公司

會員指數(shù)：

企業(yè)認(rèn)證：

價格：電議

所在地：廣東東莞市

型號：JSX-3400RⅡ

更新時間：2017-04-25

瀏覽次數(shù)：1534

公司地址：廣東省東莞市東城區(qū)東泰花園中信德方斯協(xié)和大廈605-606

13925802931 鄭先生(先生)

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產(chǎn)品簡介

能量分散型熒光X射線元素分析儀 JSX-3400RⅡ JSX-3400RⅡ是日本電子株式會社推出的08年新一代高性能能量分散型熒光X

公司簡介

歡迎您蒞臨東莞市協(xié)美電子有限公司網(wǎng)站
東莞市協(xié)美電子有限公司Star Joy Limited主要代理JEOL 日本電子SEM、OXFORD 英國牛津、日本RHESCA公司產(chǎn)品，并提供使用客戶儀器相關(guān)技術(shù)轉(zhuǎn)移及專業(yè)的維修保養(yǎng)。讓您享受進(jìn)口儀器的優(yōu)越性能及怡星的在地優(yōu)質(zhì)服務(wù)。

RoHS檢驗儀器
JEOL 日本電子掃描電鏡SEM

東莞市協(xié)美電子有限公司
東莞市協(xié)美電子有限公司成立于2012年，與臺灣珆瑆股份有限公司，香港怡星(中國)有限公司同屬Star Joy Limited，主要從事掃描電鏡SEM，歐盟 RoHS 檢驗儀器設(shè)備及相關(guān)技術(shù)咨詢服務(wù)，東莞市協(xié)美電子有限公司，并且在中國地區(qū)--廣東省東莞地區(qū)、江蘇省吳江地區(qū)設(shè)立辦事處服務(wù)廣大客戶，目前在中國地區(qū)主要客戶已有超過200家以上，是經(jīng)驗豐富、商譽(yù)卓絕、服務(wù)質(zhì)量優(yōu)良的儀器設(shè)備供貨商。主要代理產(chǎn)品如下：

日本電子SEM掃描電鏡
日本電子JEOL是全球最大的電子光學(xué)產(chǎn)品供應(yīng)商，主要生產(chǎn)SEM掃描電鏡、SEM制樣設(shè)備。

JEOL SEM

牛津儀器OXFORD
牛津儀器于1959年創(chuàng)建于英國牛津，為世界領(lǐng)先的科學(xué)儀器集團(tuán)公司主要產(chǎn)品、測厚儀、EDS 、XRF

JEOL SEM

SAT5200可焊性測試儀
RHESCA CO., LTD.創(chuàng)立于1955年，擁有50年以上電子元器件、材料可靠性檢查裝置的制造經(jīng)驗，特別是可焊性測試儀系列

JCM5000

IB09010CP離子剖面
離子剖面/截面斷面拋光儀。以離子束對SEM、TEM樣品進(jìn)行斷面切割與拋光，獲得最佳斷面訊息

展開

產(chǎn)品說明

能量分散型熒光X射線元素分析儀 JSX-3400RⅡ
JSX-3400RⅡ是日本電子株式會社推出的08年新一代高性能能量分散型熒光X射線元素分析儀。該設(shè)備具有出眾性能指針，不僅能很好對應(yīng)RoHS指令、ELV指令和其它環(huán)境指令相關(guān)元素分析，還對鹵素Cl測試分析。能同時達(dá)到無鹵測試及ROHS測試。

型錄下載

主要特點

1.	實現(xiàn)高靈敏度微少成分的分析短時間測定！
	Ⅰ	采用新光學(xué)系統(tǒng)與高分辨率 Si(Li) 型檢測器。檢測器分辨率保證在149eV以下。(業(yè)界
		的保證分辯率).
	Ⅱ	新開發(fā)的針對RoHS用X射線濾波器。減除了X射線管發(fā)出的干擾波峰以外，實現(xiàn)了波
		峰背景的低減與避免共存元素影響。
2.	內(nèi)置標(biāo)配塑料和金屬的檢量線。用戶不需要再做！
	Ⅰ	通過設(shè)備的校正功能，配置各種檢量線長期使用完全有效。一般的保守也特別簡單。
	Ⅱ	可針對Cl的檢量線，檢測限可達(dá)9個PPM，達(dá)到無鹵測試要求。
3.	簡單方便的操作系統(tǒng)
2	Ⅰ	按一鍵就完成測定!自動保存結(jié)果。一鍵生成報告
4.	材料元素 Monitoring 系統(tǒng)。
	Ⅰ	實現(xiàn)樣品形狀/厚度/面積和材料性質(zhì)補(bǔ)正都自動進(jìn)行。在業(yè)界多補(bǔ)正功能。滿足樣
		品基材多樣性需求。
5.	采用300mmφ 大型樣品室，自動樣品樣品倉門。
3	Ⅰ	大樣品可以直接放入様品室。自動樣品倉門更好密封樣品室。

其他功能

分析結(jié)果報告軟體：測試自動保存結(jié)果，並可一鍵生成報告。（標(biāo)配）

→

鍍錫分析軟體（可選）

Ⅰ

無鉛焊錫和Sn焊料中的Pb分析非常困難，使用該軟體可以簡單進(jìn)行非破壞分析，並

進(jìn)行鍍層厚度修正分析準(zhǔn)確。

鍍鎳分析軟體（可選）

Ⅰ

非破壞測量無電解Ni鍍層中的Pb,Cd進(jìn)行鍍層厚度修正分析準(zhǔn)確。成功地去除了背底

的影響。

Ⅰ

技術(shù)參數(shù)

元素範(fàn)圍	Na11 - U92
解析度	保證149ev 以下(JSX-3400R是目前市面上解析度之桌上型XRF)
X射線管	5-50kV, 1mA, 50W
靶材	Rh靶
濾波機(jī)構(gòu)	4種自動交換(包括Open)
準(zhǔn)直器	1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ
探測器	液氮製冷型Si(Li)半導(dǎo)體探測器
液氮	3升（消耗量1升/日以下）僅使用
樣品室尺寸	300 mmΦ x 150mmH
樣品室環(huán)境	大氣，真空（可選）
作業(yè)系統(tǒng)	Windows XP，19寸彩色顯示器
主要附件	能量校正樣品/強(qiáng)度校正樣品/檢查樣品
設(shè)備電源	單相AC100V±10%，單相AC220V±10%

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