JAX采用zei新一代的泵浦探測pump-probe技術(shù)即異步光學(xué)采樣技術(shù)（ASynchronous OPtical Sampling Imagery System，ASOPS). 此技術(shù)源于光學(xué)外差法采樣技術(shù)，是波爾多大學(xué)和法國CNRS共同合作開發(fā)的技術(shù)，Neta的產(chǎn)品來源于此項技術(shù)。這種專利授權(quán)的zei新技術(shù)可在在納米尺度上表征材料，而不接觸破壞樣品。

北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司是一家專注于科學(xué)研究及工業(yè)應(yīng)用的儀器渠道商和系統(tǒng)解決方案提供商，我們?yōu)楦咝?、科研院所、企業(yè)等各類客戶提供全面的儀器設(shè)備解決方案。公司成立于2012年，總部設(shè)在北京，在上海、深圳、沈陽等地設(shè)有多個辦事處。 培科創(chuàng)新，與多家世界知名儀器制造商建立了良好的戰(zhàn)略合作關(guān)系，不斷優(yōu)化提升的公司自身營運和服務(wù)質(zhì)量，致力于向用戶提供的產(chǎn)品、zui優(yōu)化的解決方案和高品質(zhì)的專業(yè)服務(wù)，承擔著科技產(chǎn)業(yè)助推器的責任，服務(wù)并推動科學(xué)研究和科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。 培科創(chuàng)新，秉承高度負責和誠信的原則展開業(yè)務(wù)，努力營造員工和客戶之間互相尊重、坦誠溝通、高效互動的健康環(huán)境。我們了解客戶的實際需求，并提供合理優(yōu)質(zhì)的解決方案，并盡力滿足客戶的近期和長期需求。培科在客戶的關(guān)注和員工們的努力中不斷進步，擁有遍布全國的營銷渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)、職業(yè)化的技術(shù)服務(wù)團隊。

聲波(超聲波)已經(jīng)作為一種常見無損檢測手段，在工業(yè)或醫(yī)療領(lǐng)域的宏觀范圍內(nèi)的測試得到廣泛應(yīng)用。另一方面，我們每天使用的電子器件裝置越來越集成和復(fù)雜，尺寸越來越小。傳統(tǒng)的表征測試手段越來越具有局限性，在納米尺度范圍內(nèi)需要新的測量裝置進行材料的表征測試；

  JAX采用zei新一代的泵浦探測pump-probe技術(shù)即異步光學(xué)采樣技術(shù)（ASynchronous OPtical Sampling Imagery System，ASOPS). 此技術(shù)源于光學(xué)外差法采樣技術(shù)，是波爾多大學(xué)和法國CNRS共同合作開發(fā)的技術(shù)，Neta的產(chǎn)品來源于此項技術(shù)。這種專利授權(quán)的zei新技術(shù)可在在納米尺度上表征材料，而不接觸破壞樣品。Neta使用這項技術(shù)，采用zei新的工業(yè)設(shè)計，具有的性能，高可靠性和可維護性。我們的研發(fā)團隊進行了專業(yè)的工業(yè)化設(shè)計，使得Neta成為一種易于使用和即插即用的產(chǎn)品，可以像普通顯微鏡一樣，非專業(yè)人士即可操作。

產(chǎn)品概述和特點

• 市場上即時可用ASOPS 系統(tǒng)

• 一鍵采集測量；

• 具有Mapping成像能力；

• 非破壞/無接觸探測

• 高分辨率和

• 基于新一代脈沖光纖激光器

  JAX 系統(tǒng)采用單路或雙路的泵浦/探測模式的飛秒激光器，重復(fù)頻域在數(shù)百兆赫茲（如下圖）。它被稱為外差法技術(shù)，具有高穩(wěn)定性和等優(yōu)點，允許用戶一鍵采集一個測量點的所有參數(shù)，比傳統(tǒng)技術(shù)快10 000到100 000倍。頻移允許通過一個雙光源聲波(超聲波)已經(jīng)作為一種常見無損檢測手段，在工業(yè)或醫(yī)療領(lǐng)域的宏觀范圍內(nèi)的測試得到廣泛應(yīng)用。另一方面，我們每天使用的電子器件裝置越來越集成和復(fù)雜，尺寸越來越小。傳統(tǒng)的表征測試手段越來越具有局限性，在納米尺度范圍內(nèi)需要新的測量裝置進行材料的表征測試；

  JAX采用zei新一代的泵浦探測pump-probe技術(shù)即異步光學(xué)采樣技術(shù)（ASynchronous OPtical Sampling Imagery System，ASOPS). 此技術(shù)源于光學(xué)外差法采樣技術(shù)，是波爾多大學(xué)和法國CNRS共同合作開發(fā)的技術(shù)，Neta的產(chǎn)品即時掃描并在數(shù)個毫秒內(nèi)獲得樣品信息，探測時間分辨率小于1ps，這就是異步光學(xué)采樣技術(shù)。一旦樣品上單點測量結(jié)束，用戶可以移動樣品并開始掃描整個表面，以便創(chuàng)建所研究參數(shù)的Mapping成像。

  

圖1ASOPS 測量示意圖

  JAX-M1進行皮秒聲波的產(chǎn)生和檢測

  JAX-M1一般使用反射模式，基于正置結(jié)構(gòu)，近紅外激勵pump模式。在這種模式下，由近紅外飛秒激光正面輻照樣品上表面，樣品內(nèi)產(chǎn)生超聲波，并用另外一束飛秒激光進行聲波檢測。在圖2的示例中，樣品是硅襯底上的250納米的鎢薄膜。被激發(fā)的聲波穿透鎢薄膜，當?shù)竭_鎢和硅的界面時，部分聲波被反射回到表面，并被探測激光作為回聲檢測到。聲波再次被鎢和空氣界面反射，并在結(jié)構(gòu)層中傳輸，這樣產(chǎn)生多次的回聲信號。

  自動信號處理

  特定開發(fā)的程序用來提取回聲信號之間的飛行時間F和衰減a；從內(nèi)部接觸界面或其它亞表面非均勻聲學(xué)區(qū)域返回到表面的應(yīng)變脈沖被檢測為一系列回波信號。例如，通過薄膜來回傳播的應(yīng)變脈沖產(chǎn)生一系列衰減的回波，從中可以得到一個超聲波衰減或超聲波色散的回波，通過這些信號特征進而得到薄膜厚度。固體表面附近的折射率和消光系數(shù)受到返回的應(yīng)變脈沖的擾動，從而導(dǎo)致光學(xué)反射率或透射的變化（探測光的光學(xué)吸收深度內(nèi)）。測量的時間回波形狀是由探測光吸收譜形狀和應(yīng)變脈沖空間輪廓的空間積分決定的。

  物理屬性提取及成像

  通過回波之間飛行的時間可以推斷出鎢的厚度，而回聲的衰減等信息告訴我們涂層黏附的質(zhì)量。ASOPS快速測試能力使得在合理的測試時間內(nèi)對器件的成像測試如今成為可能，ASOPS技術(shù)代替了傳統(tǒng)泵浦探測中的分散多點測試和估算。圖4這里的案例，是以50微米的空間分辨率進行了1000個點的測試。

  

 圖 4左側(cè)：鎢層的薄膜厚度（納米）；右側(cè)：黏附質(zhì)量

1. NETA JAX應(yīng)用：

  納米薄膜和納米器件的無損檢測

  大量工業(yè)領(lǐng)域采用無損檢測的手段進行產(chǎn)品品質(zhì)鑒定，我們的產(chǎn)品特別適合樣品微納結(jié)構(gòu)的無損、非接觸式測量，獲得微納樣品的結(jié)構(gòu)性能信息。這些檢測對于半導(dǎo)體行業(yè)，光學(xué)制造或是專業(yè)涂層生產(chǎn)等領(lǐng)域是必不可少的過程，很大程度上影響產(chǎn)品的產(chǎn)量和品質(zhì)。例如對于兩層金屬薄膜樣品的膜厚度測量或者黏附質(zhì)量檢測，我們的產(chǎn)品能夠快速，的獲得缺陷的詳細信息；快速Mapping成像獲得缺陷的定量信息，能夠幫助進行產(chǎn)品質(zhì)量控制。

  生物（切片）成像

  生物切片成像表征很容易理解，簡而言之，我們能夠在納米尺度范圍內(nèi)，對于細胞進行超聲波成像。這種應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)的多參數(shù)物理量非接觸成像技術(shù)有助于提高細胞結(jié)構(gòu)學(xué)的認知，在生物多樣性過程中以及在退化性疾病或癌癥的研究中起著至關(guān)重要的作用。Neta 技術(shù)創(chuàng)新，為這一領(lǐng)域的研究提供了可能性。

  材料領(lǐng)域

  時間分辨光譜學(xué)是研究超快瞬態(tài)現(xiàn)象、材料間的相移和薄膜應(yīng)力松弛的各種相關(guān)技術(shù)。在實現(xiàn)納米熱學(xué)或皮秒聲學(xué)研究方法中，我們的產(chǎn)品在納米尺度上對這種現(xiàn)象的成像提供了可能性。這些現(xiàn)象的研究對更好地理解物質(zhì)的結(jié)構(gòu)以及如何改進物質(zhì)的結(jié)構(gòu)起著重要的作用。

技術(shù)參數(shù)

1. JAX詳細規(guī)格和性能

  主系統(tǒng)規(guī)格

JAX	單波長	雙波長
光譜范圍	UV / VIS / IR	UV & VIS / VIS & IR
橫向空間分辨率	250 nm
時間分辨率	250 fs
時間測量窗口	23 ns
采樣點激光功率	500 mW
激光重復(fù)率	44 MHz
掃描時長	2 ms per acquisition
重復(fù)率偏移調(diào)諧	0.1 ms per acquisition
成像zei大尺寸	zei大 50 x 50 mm2 或定制到450 mm 半徑

	HEAD                               onTROLLER
尺寸	852 x 774 x 630 mm	20U單機架
重量	80 kg	90 kg
配置	up to 24	-
預(yù)熱時間和校準時間	少于5 分鐘	-

  樣品臺規(guī)格

類型	數(shù)值
尺寸	150 x 100mm
機械接口	M6 ， 25 x 25mm
載物臺
行程	25 x 25 mm	40x50 mm
zei大速度	1 mm/s	5 mm/s
zei小步進精度	低于50 nm	低于100 nm

  JAX zei多提供 24 個不同的配置:

• 2 可能的波長在雙波長系統(tǒng)中,

• 4 top/bottom 配置的泵浦和探針激光器 (top/top, top/bottom, bottom/top, bottom/bottom)

• 3 研究方法：泵浦和探針探測同一點，探針掃描小的泵浦激光器周圍區(qū)域或者透射模式

  成像配置

  用戶可以在軟件內(nèi)的屏幕上直接顯示樣品的實時顯微光學(xué)視圖。相機可在標準的俯視圖內(nèi)觀察研究區(qū)域，并幫助粗對準的泵浦激光器探測光束。樣品架配備有6位物鏡轉(zhuǎn)輪，以便預(yù)先安裝多達6種不同的顯微鏡物鏡頭，而無需進一步校準。

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