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價(jià)格：電議
所在地：上海
型號(hào)：
更新時(shí)間：2022-03-15
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公司地址：上海市嘉定區(qū)銀龍路258弄9號(hào)樓
張(先生) 銷售經(jīng)理
艾因蒂克作為多家知名無損檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商在中國地區(qū)的特約授權(quán)或代理，為中國用戶提供了全方位的無損檢測(cè)設(shè)備及解決方案。我們代理的品牌有：艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超聲波相控陣探傷儀64/128PR、奧林巴斯無損檢測(cè)（Olympus NDT）、美國萬睿視（VAREX，原VARIAN和PE）平板探測(cè)器及射線管頭、瑞士COMET射線設(shè)備（包括德國YXLON便攜式射線機(jī)）、法國EFER工業(yè)內(nèi)窺鏡、英國GAPGUN激光間隙測(cè)量儀、西班牙波控（WAVECONTROL）電磁強(qiáng)度測(cè)試儀EMF等設(shè)備的代理。
上海艾因蒂克銷售工業(yè)X射線探傷機(jī)，萬睿視（Varex）平板探測(cè)器（PaxScan® 1515DXT平板探測(cè)器、PaxScan®2520DX平板探測(cè)器、PaxScan®2530HE平板探測(cè)器、PaxScan® 1313DX平板探測(cè)器、DR-PaxScan®2530DX平板探測(cè)器、PaxScan® 1308DXT平板探測(cè)器、PaxScan®1308DX平板探測(cè)器、XRD1611平板探測(cè)器、XRD1621平板探測(cè)器、XRD1622平板探測(cè)器、XRD0822平板探測(cè)器、XRD3025平板探測(cè)器、XRD4343CT平板探測(cè)器、XRPad2 3025平板探測(cè)器、XRPad2 4336平板探測(cè)器）及直線加速器和X射線球管。
艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超聲波相控陣探傷儀64/128PR、超聲波探傷儀（復(fù)合材料粘接檢測(cè)儀Bo
探頭線、探頭、各種檢測(cè)試塊
測(cè)厚儀（MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀、45MG超聲波測(cè)厚儀、高級(jí)多功能超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS、經(jīng)濟(jì)型超聲波測(cè)厚儀27MG、35RDC復(fù)合材料粘接檢測(cè)儀、便攜式MG2系列腐蝕測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀DM5E、測(cè)厚儀CL5）
光譜分析儀（Vanta手持式XRF分析儀、DELTA Professional合金分析儀、DELTA Element分析儀）
工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡（EFER FLASH 900、 IPLEX NX、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS）、法國EFER紫外熒光內(nèi)窺鏡、磁粉探傷機(jī)、反差增強(qiáng)劑，滲透劑等磁粉滲透設(shè)備。
我公司維修以下超聲波設(shè)備：26mg壁厚儀檢測(cè)、售后維修27mg測(cè)厚儀、45MG測(cè)厚儀檢修、38DL PLUS測(cè)厚儀操作手冊(cè)、MAGNA-MIKE 8600測(cè)厚儀操作視頻、DM5E測(cè)厚儀、CL5測(cè)厚儀、EPOCH XT探傷儀、售后維修EPOCH 600探傷儀、售后維修EPOCH LTC探傷儀、維修OmniScan MX2相控陣探傷儀、售后維修Ominscan SX相控陣探傷儀、售后維修Phasor相控陣探傷儀、售后維修EPOCH 1000探傷儀、售后維修USN60探傷儀、USM 36探傷儀、USMgo+探傷儀、epoch 6LT探傷儀、EPOCH 650探傷儀
渦流陣列儀器OmniScan MX ECA
渦流陣列儀器OmniScan MX ECA
渦流陣列技術(shù)
渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè)）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的
同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列：
· 檢測(cè)時(shí)間大幅度降低。
· 單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域。
· 減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。
· 提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。
· 很好地適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)。
· 改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀，可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
渦流陣列軟件
簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示
采集模式顯示分析模式顯示
C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測(cè)缺陷。
分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號(hào)。
波幅、相位和位置測(cè)量。
可調(diào)彩色調(diào)色板。
大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測(cè)相適應(yīng)。
校準(zhǔn)向?qū)?
分步進(jìn)行。
一組中的所有通道可被同時(shí)校準(zhǔn)，每個(gè)通道各有自己的增益和旋轉(zhuǎn)。
波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設(shè)定。
報(bào)警
３個(gè)報(bào)警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
可以在阻抗圖中定義不同的報(bào)警區(qū)形狀（扇形、長方形、環(huán)形等）。
自動(dòng)探頭識(shí)別和配置
探頭被連接后，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動(dòng)設(shè)置。
頻率范圍保護(hù)可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化。
渦流陣列儀器OmniScan MX ECA
實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理
采集模式顯示分析模式顯示
實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示。
使用兩個(gè)頻率，可生成一個(gè)MIX信號(hào)，以去除干擾信號(hào)（如：提離、緊固件信號(hào)等）。
數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個(gè)應(yīng)用實(shí)例：在搭接處邊緣檢測(cè)出裂，因?yàn)樵撎幒穸瘸霈F(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進(jìn)檢測(cè)效果，特別是對(duì)小裂紋而言。
復(fù)合材料檢測(cè)Olympus推出了一款新開發(fā)的粘接檢測(cè)OmniScan解決方案：這無疑是復(fù)合材料檢測(cè)行業(yè)中的一大進(jìn)步。如今，使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經(jīng)成為現(xiàn)實(shí)。這款OmniScan解決方案不僅可地適用于蜂窩結(jié)構(gòu)復(fù)合材料的脫膠檢測(cè)，還可以進(jìn)行分層檢測(cè)，且結(jié)果的程度與脫膠檢測(cè)相比絲毫不差。雖然這個(gè)解決方案主要為航空航天工業(yè)的在役檢測(cè)而設(shè)計(jì)，但是在包括汽車和船舶工業(yè)在內(nèi)的制造業(yè)中也非常有用，如：針對(duì)復(fù)合材料船體的檢測(cè)。
已經(jīng)擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購標(biāo)準(zhǔn)的BondMaster探頭（P14和SPO-5629）及BondMaster線纜，就可以使用這個(gè)解決方案完成檢測(cè)應(yīng)用。
我們特別為復(fù)合材料的檢測(cè)開發(fā)定制了MXB軟件。其新添的功能，如：向?qū)Ш蜆?biāo)準(zhǔn)化，有助于保持操作的簡(jiǎn)潔性。
編碼系統(tǒng)：可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測(cè)工件。Olympus提供兩個(gè)選項(xiàng)：一個(gè)是可好地適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器；另一個(gè)是WING掃查器，這款掃查器專門為掃查曲面工件而設(shè)計(jì)（如：航天飛機(jī)的機(jī)身），而且因其具有Venturi真空吸盤系統(tǒng)，甚至可以倒置進(jìn)行操作。此外，裝有步進(jìn)點(diǎn)擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個(gè)系統(tǒng)兼容，從而加強(qiáng)了系統(tǒng)的多用性。
Olympus又一次創(chuàng)新了在屏幕上顯示數(shù)據(jù)的方法。針對(duì)每個(gè)C掃描，操作人員可以有兩個(gè)視圖選擇：一種是波幅C掃描，不會(huì)考慮相位情況，只基于信號(hào)的波幅而顯示不同的顏色，這是一個(gè)可清晰、有效地探測(cè)脫膠缺陷的理想視圖。另一種是相位C掃描，使用0°到360°的彩色調(diào)色板顯示相位角的變化，有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示，如：油灰填塞（修補(bǔ)）缺陷或分層缺陷。
技術(shù)規(guī)格
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渦流模塊的技術(shù)規(guī)格 |
外型尺寸 （寬 x 高 x 厚） |
244毫米 x 182毫米 x 57毫米 |
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重量 |
1.2公斤（2.6磅） |
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接口 |
1個(gè)OmniScan®渦流陣列探頭接口 |
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通道數(shù)量 |
32個(gè)通道，帶內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器 |
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探頭識(shí)別 |
自動(dòng)探頭識(shí)別和設(shè)置 |
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發(fā)生器 |
發(fā)生器數(shù)量 |
1個(gè)（帶內(nèi)置電子參考） |
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大電壓 |
12 Vp-p，10 Ω |
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工作頻率 |
20 Hz～6 MHz |
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帶寬 |
8 Hz～5 kHz（單線圈中）。同時(shí)隙成反比例關(guān)系，并通過儀器在多路模式下設(shè)定。 |
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接收器 |
接收器數(shù)量 |
1個(gè)～4個(gè) |
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大輸入信號(hào) |
1 Vp-p |
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增益 |
28 dB～68 dB |
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內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器 |
發(fā)生器數(shù)量 |
32個(gè)（８?jìng)€(gè)時(shí)隙時(shí)，4個(gè)發(fā)生器同時(shí)工作；使用外部多路轉(zhuǎn)換器時(shí)，多達(dá)64個(gè)） |
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大電壓 |
12 Vp-p，50 Ω |
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接收器數(shù)量 |
4個(gè)差分接收器（每個(gè)8時(shí)隙） |
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大輸入信號(hào) |
1 Vp-p |
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數(shù)據(jù)采集 |
數(shù)字化頻率 |
40 MHz |
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采集速率 |
1 Hz～15 kHz（單線圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過多路激發(fā)模式的延遲設(shè)定所限制。 |
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Ａ/D分辨率 |
16比特 |
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數(shù)據(jù)處理 |
相位旋轉(zhuǎn) |
0°～360°，步距為0.1° |
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濾波 |
FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調(diào)）、中值濾波器（在2點(diǎn)～200點(diǎn)之間變化）、平均濾波器（在2點(diǎn)～200點(diǎn)之間變化 ） |
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通道處理 |
混合 |
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數(shù)據(jù)存儲(chǔ) |
大文件容量 |
取決于內(nèi)部閃存空間：180 MB（或者300 MB，可選） |
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數(shù)據(jù)同步 |
按內(nèi)部時(shí)鐘 |
1 Hz～15 kHz（單線圈） |
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外部步速 |
有 |
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按編碼器 |
單軸或雙軸 |
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報(bào)警器 |
報(bào)警器數(shù)量 |
3個(gè) |
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報(bào)警區(qū)域形狀 |
扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環(huán)形 |
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輸出類型 |
視頻、音頻以及TTL信號(hào) |
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模擬輸出 |
1個(gè)（X或Y） |
如有需要OLYMPUS 渦流陣列檢測(cè)儀器OmniScan MX ECA/ETC，歡迎致電聯(lián)系。
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