GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面?；赪indows10操作系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面。讓測(cè)試更智能、更簡便。

北京中芯云科儀器有限公司是一家主要是從事儀器設(shè)備，我們同中國科學(xué)院，北京科技大學(xué)，清華大學(xué)，上海交通大學(xué)，北京航空航天大學(xué)等建立了合作和研究中心，目前我們主要在安全控制設(shè)備，計(jì)量檢測(cè)設(shè)備，科學(xué)材料研究設(shè)備，3D打印及空間技術(shù)的研發(fā)和銷售，我們將同國內(nèi)的科研機(jī)構(gòu)和高等院校進(jìn)行廣泛的合作，服務(wù)于國內(nèi)和國外廣大客戶，我們將提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)服務(wù)，共同開拓進(jìn)取。

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀

關(guān)鍵詞：彈性常數(shù)等C-V ,介電常數(shù)，損耗角，電導(dǎo)率，C-特性

產(chǎn)品簡介

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面。基于Windows10操作系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面。讓測(cè)試更智能、更簡便。

T 120MHz的頻率瓶頸:解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨(dú)測(cè)試的缺陷:中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的增尬:采用單測(cè)和分析兩種界面。讓測(cè)試更簡單。

快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MQ的阻抗測(cè)試范圖可以滿足元件與材料的測(cè)量基求。特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響。將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀主要性能特點(diǎn)

測(cè)試頻率: 10Hz-1 30MHz

高精度:采用自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，四端對(duì)測(cè)試配置

高穩(wěn)定性和一致性

高速度:最快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度

高分辨: 10. 1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800

點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描、等效電路、晶體振蕩器分析五種測(cè)試方式

1601點(diǎn)多參數(shù)列表掃描功能

四參數(shù)測(cè)量

自動(dòng)電平控制(ALC) 功能

4通道圖形掃描功能，每通道可顯示4條曲線,通道和曲線有14種分屏顯示方式

強(qiáng)大的分選: LCR模式10檔分選

圖形掃描模式每條曲線單獨(dú)分選

高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4990A、E4980A、E4980AL、HP4284A

A.高精度

自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-1 30MHz頻率、1mQ -100M的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的測(cè)量精度，其中最高精度達(dá)0.08%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)童法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

應(yīng)用

■無源元件:

電容器、電感器、磁芯、電阻器、電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

■半 導(dǎo)體元件:

LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

■ 其它元件:

印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估

介質(zhì)材料:

塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

磁性材料:

鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

半導(dǎo)體材料:

半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、電導(dǎo)率和C-特性

液晶單元:

介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

B.高穩(wěn)定性和高一致性

下圖是在速度5、則試頻率1MHz，測(cè)量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≤0.003%（≤±0.0015Ω）

C.高速度

D.10. 1時(shí)大屏，四種測(cè)里參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無遺

10. 1寸觸摸屏、1280*800分 辨率，Windows10系統(tǒng) 、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN、VGA/ HOMI接口，帶來的是無以倫比的操作便捷性。

大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂，同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù)，四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)

E.增強(qiáng)的列表掃描功能

可以最多設(shè)置1 601點(diǎn)的列表掃描，每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。

F.強(qiáng)大的分析圖形界面

最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

G.分段掃描功能

最多可以4通道同時(shí)顯示，每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。

如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描共呢個(gè)可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量，無需掃描不相關(guān)頻率。

H.強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力，可以通過光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能:

1.讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值(作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值)

2.查找曲線上的特定點(diǎn)(光標(biāo)查找)

3.分析曲線測(cè)量結(jié)果，計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

4.使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

TH2851可以在每條曲線上顯示10個(gè)光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。

每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值( 坐標(biāo)系x軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值)和響應(yīng)值(坐標(biāo)系Y軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值)。

光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn):最大值、最小值

峰谷值:峰值(極大值)、 谷值(極小值)、 光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值

目標(biāo)值:距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值 、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

G.強(qiáng)大的圖形分析功能

1) 曲線分選功能

可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷,常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

2)等效電路分析測(cè)試

現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以械等效成簡單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路3分析則式功能提供了7種基本電路模型用于等效這些器件。

可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)重的阻抗曲線進(jìn)行對(duì)比，還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的摸型進(jìn)行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TIT文檔方便用戶保存使用

3)晶體振蕩器分析

對(duì)壓電陶瓷等晶體進(jìn)行列量以及性能分析，測(cè)重計(jì)算后獲取晶體的諧振頻軍、反諧振頻率.品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

4)曲線軌跡對(duì)比

曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)童，所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用:

a)針對(duì)多種不同被測(cè)件

對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡

設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

b)針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件

對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性

設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)童值。

F.標(biāo)配附件

 

本頁產(chǎn)品地址：http://18bearing.com/sell/show-9451881.html